[发明专利]三维图像取得装置和利用该三维图像取得装置的加工装置

权利要求书

1.一种三维图像取得装置，将接近于透明的生物材料作为试样，根 据试样透过光的衰减量而获得立体像，其特征在于，包括：

对光强度以预定的频率被振幅调制了的光束进行射出的光源；

将所述光束聚光到试样中的计测点上而生成所述计测点附近的局 部强度分布的物镜；

相对地三维扫描所述试样和所述计测点的三维扫描单元；

根据所述试样的光透过量计测所述光束的光衰减量的单元；

微小调制信号处理部，计算与没有试样时的光束的透过光量相当的 参照信号电压、和与有试样时的所述光束的透过光量相当的试样透过信 号电压的差，输出与扫描的计测点的位置坐标对应的光束的微小光衰减 量相当的调制信号电压；

使用与所述计测点的位置坐标对应的所述调制信号电压，生成三维 地图的单元；

通过使用了从所述计测点附近的光强度分布像得到的卷积核的反 卷积，或不初始设定卷积核的盲反卷积的任何一个，根据所述三维地图 生成试样的立体像的单元。

2.根据权利要求1所述的三维图像取得装置，其特征在于，包含： 显示控制器，该显示控制器具备：

将所述试样的立体像在显示器上显示，并且，对所述立体像的反差 系数进行补正并再显示的单元；以及

改变所述立体像的视点角度进行再显示的单元。

3.根据权利要求1所述的三维图像取得装置，其特征在于，所述反 卷积，通过搭载了三维反卷积计算机软件的计算机、或包含数字信号处 理器而构成的电子电路、或包含现场可编程门阵列而构成的电子电路的 任何一个而进行。

4.根据权利要求1所述的三维图像取得装置，其特征在于，所述三 维扫描单元以搭载了试样的XYZ的三维工作台构成。

5.根据权利要求1所述的三维图像取得装置，其特征在于，三维扫 描通过在YZ上移动的可动物镜和X工作台而实现。

6.根据权利要求1所述的三维图像取得装置，其特征在于，所述三 维扫描单元是以XYZ的三维方式使光束进行扫描的光束三维扫描单元。

7.根据权利要求1所述的三维图像取得装置，其特征在于，在所述 微小调制信号处理部中，使所述试样透过信号电压和参照信号电压的差 信号电压，除以所述参照信号电压而进行规格化。

8.根据权利要求1所述的三维图像取得装置，其特征在于，所述微 小调制信号处理部构成为包含锁定放大器。

9.根据权利要求1所述的三维图像取得装置，其特征在于，参照信 号电压是从光源射出的光束中被分路的、未透过试样的光束的光检测输 出。

10.根据权利要求1所述的三维图像取得装置，其特征在于，光源 包括半导体激光器，参照信号电压从在所述半导体激光器上搭载的监控 二极管生成。

11.一种三维加工装置，利用将接近于透明的生物材料作为试样， 根据试样透过光的衰减量得到立体像的三维图像取得装置，指定接近于 透明的生物试样的试样空间内的任意点的位置坐标，对所述任意点进行 光刺激和/或光加工，其特征在于，

所述三维图像取得装置，具备：

对光强度以预定的频率被振幅调制了的光束进行射出的光源；

将所述光束聚光到试样中的计测点上而生成所述计测点附近的局 部强度分布的物镜；

相对地三维扫描所述试样和所述计测点的三维扫描单元；

根据所述试样的光透过量计测所述光束的光衰减量的单元；

微小调制信号处理部，计算与没有试样时的光束的透过光量相当的 参照信号电压、和与有试样时的所述光束的透过光量相当的试样透过信 号电压的差，输出与扫描的计测点的位置坐标对应的光束的微小光衰减 量相当的调制信号电压；

使用与所述计测点的位置坐标对应的所述调制信号电压，生成三维 地图的单元；

通过使用了从所述计测点附近的光强度分布像得到的卷积核的反 卷积，或不初始设定卷积核的盲反卷积的任何一个，根据所述三维地图 生成试样的立体像的单元。