[发明专利]显示装置的驱动电路和驱动电路的测试电路以及测试方法

权利要求书

1.一种驱动电路，所述驱动电路在高负电压和高正电压之间的电 压范围内驱动显示面板，所述驱动电路包括：

电荷放电电路，所述电荷放电电路被构造为响应于电源电压的下 降将被提供有所述高负电压的第一端子连接至接地电压的第二端子； 和

测试外部端子，所述测试外部端子被构造为被连接至所述电荷放 电电路，

其中，所述高负电压被提供给在上面设置有所述驱动电路的半导 体基板，

其中，当进行多重测量时，当所述驱动电路是非测量的驱动电路 时，所述电荷放电电路基于来自于所述测试外部端子的控制信号来中 断所述第一端子和所述第二端子之间的连接。

2.根据权利要求1所述的驱动电路，其中所述电荷放电电路包括：

逻辑电路，所述逻辑电路被构造为响应于所述电源电压的所述下 降而被连接至所述测试外部端子和电压被改变了的结点，其中，所述 逻辑电路接收来自于所述测试外部端子的所述控制信号和所述结点的 所述电压作为输入，并且输出逻辑操作结果，和

开关电路，所述开关电路被构造为响应于所述逻辑操作结果来控 制所述第一端子和所述第二端子之间的所述连接。

3.根据权利要求2所述的驱动电路，进一步包括：

残像防止电路，所述残像防止电路被构造为抑制所述显示面板中 的残像，

其中，所述残像防止电路包括：

电压检测电路，所述电压检测电路被构造为检测所述电源电压的 变化，

电平转换电路，所述电平转换电路被构造为将所述电源电压的检 测到的变化转换为一预定电压，并且将所述结点的所述电压改变为所 述预定电压，以及

所述电荷放电电路，该电荷放电电路被连接至所述电平转换电路。

4.根据权利要求2所述的驱动电路，进一步包括：

电荷泵电路，所述电荷泵电路被构造为基于所述电源电压生成所 述高负电压，

其中，所述电荷泵电路包括：

电压生成电路，所述电压生成电路被构造为基于所述电源电压生 成所述高负电压，和

所述电荷放电电路，该电荷放电电路被连接至所述电压生成电路， 并且接收控制电压作为所述结点的所述电压。

5.根据权利要求1至4中任何一项所述的驱动电路，其中，

所述驱动电路被包括在一个半导体晶片上提供的多个驱动电路 中，所述多个驱动电路中的每一个具有相同的结构。

6.一种测试电路，包括：

被测器件(DUT)，所述被测器件被构造为包括有在一个半导体 基板上提供的多个驱动电路，其中，所述多个驱动电路中的每一个在 高负电压和高正电压之间的电压范围内驱动显示面板；和

测试器，所述测试器被构造为测试所述被测器件，

其中，所述多个驱动电路中的每一个包括：

电荷放电电路，所述电荷放电电路被构造为响应于电源电压的下 降而将被提供有所述高负电压的第一端子连接至接地电压的第二端 子；和

测试外部端子，所述测试外部端子被构造为连接至所述电荷放电 电路，

其中，所述高负电压被提供给所述一个半导体基板，

其中，当进行多重测量时，当每个所述驱动电路是非测量的驱动 电路时，所述电荷放电电路基于来自于所述测试外部端子的控制信号 来中断所述第一端子和所述第二端子之间的连接，

其中，所述测试器的接地端子被连接至所述被测器件的接地端子，

其中，当进行多重测量时，所述多个驱动电路中的检查对象驱动 电路的所述测试外部端子被设置为开放端子，并且所述测试器将所述 控制信号提供给所述多个驱动电路中的其它非测量的驱动电路的所述 测试外部端子。