[发明专利]光学设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种包括分别驱动图像稳定透镜和可动透镜的 致动器的光学设备。

背景技术

如摄像设备或可互换镜头等光学设备设置有使可沿光学系 统的光轴的方向移动的可动透镜移动以进行变倍或聚焦的致动 器。此外，为了抑制由手抖动引起的图像晃动，这种光学设备 包括图像稳定机构，该图像稳定机构包括两个致动器和可相对 于光学系统的光轴移位(shift)的图像稳定透镜，该致动器使 图像稳定透镜沿俯仰方向(pitch direction)和横摆方向(yaw direction)移位。

作为使图像稳定透镜移位的致动器，通常使用包括线圈和 磁体的致动器。另一方面，作为使可动透镜移动的致动器，可 使用转动型马达或包括线圈和磁体的线性致动器(音圈马达)。

日本特开2003-295249号公报公开了一种光学设备，在该 光学设备中，当沿光轴的方向观察时，用于使图像稳定透镜移 位的两个致动器(下文中被称为“图像稳定致动器”)中的一个 致动器和用于使可动透镜移动的致动器(下文中被称为“透镜 移动致动器”)被配置在关于光轴的位置彼此对称的位置。该配 置可以实现光学设备的径向和光轴方向的小型化。

然而，在日本特开2003-295249号公报中公开的光学设备 中，两个图像稳定致动器中的该一个图像稳定致动器与透镜移 动致动器之间的距离比两个图像稳定致动器中的另一个图像稳 定致动器与透镜移动致动器之间的距离短很多。因此，两个图 像稳定致动器中的该一个图像稳定致动器和透镜移动致动器彼 此磁干涉，这影响了这些致动器的动作。

此外，当透镜移动致动器与图像稳定致动器之间的距离短 时，来自透镜移动致动器和图像稳定致动器的漏磁通影响用于 检测各透镜的位置的如霍尔传感器或MR传感器等磁传感器。 在该情况下，可能会降低磁传感器的位置检测精度。

发明内容

本发明提供一种光学设备，该光学设备能够减小用于使可 动透镜移动的致动器和用于使图像稳定透镜移位的致动器之间 的磁干涉，并且能够抑制致动器对检测透镜的位置的磁传感器 的磁影响。

作为本发明的一个方面，本发明提供一种光学设备，其包 括：图像稳定透镜，其能相对于光学系统的光轴移位；可动透 镜，其能沿光轴的方向移动；第一和第二致动器，该第一和第 二致动器中的每一个均包括磁体和线圈，该第一和第二致动器 使图像稳定透镜沿彼此不同的方向移位；以及第三致动器，其 包括磁体和线圈并且使可动透镜移动。当沿光轴的方向观察时， 第一和第二致动器被布置在第一区域，第三致动器被布置在第 二区域，第一区域和第二区域夹着光轴位于光轴的彼此相反的 两侧，第一和第二致动器分别被布置在第一区域中的夹着通过 光轴的位置和第三致动器的直线位于该直线的彼此相反的两侧 的区域。

作为本发明的另一方面，本发明提供一种光学设备，其包 括：图像稳定透镜，其能相对于光学系统的光轴移位；可动透 镜，其能沿光轴的方向移动；第一和第二致动器，该第一和第 二致动器中的每一个均包括磁体和线圈，该第一和第二致动器 使图像稳定透镜沿彼此不同的方向移位；以及第三致动器，其 包括磁体和线圈并且使可动透镜移动。当沿光轴的方向观察时， 第三致动器被布置在离开光轴第一距离的位置，第一和第二致 动器被布置在离开第三致动器第二距离的位置，该第二距离大 于该第一距离。

通过下面的说明和附图，本发明的其它方面将变得明显。

附图说明

图1是示出作为本发明的实施方式1的摄像设备的镜头镜 筒部(缩回位置)的构造的侧面剖视图。

图2是示出实施方式1中的镜头镜筒部(缩回位置)的构造 的顶面剖视图。

图3是示出实施方式1中的镜头镜筒部(WIDE位置)的构 造的侧面剖视图。

图4是示出实施方式1中的镜头镜筒部(WIDE位置)的构 造的顶面剖视图。

图5是示出实施方式1中的镜头镜筒部(TELE位置)的构 造的侧面剖视图。

图6是示出实施方式1中的镜头镜筒部(TELE位置)的构 造的顶面剖视图。

图7是示出实施方式1中的镜头镜筒部中的聚焦驱动机构 的构造的分解立体图。

图8是示出实施方式1中的聚焦驱动机构的一部分的构造 的立体图。