[发明专利]成像设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种其中光电导体通过激光束曝光的成像装置。

背景技术

作为电子照相成像设备，已经公知一种其中的光电导体的表面由激光束扫描和曝光的设备。用于扫描激光束的大致结构包括旋转反射构件(多面镜)，其中，从位于固定位置的激光源发射的激光束在所述旋转反射构件上被反射，以使其按照由所述反射构件的旋转引起的反射角度的变化沿着预定的方向偏转，由此扫描光电导体。

如果多面镜的侧面(反射面)由于灰层沉积而变脏，则激光束的反射率会减小，这会对图像造成影响。由此，已经提出了一种激光曝光装置，所述装置利用BD传感器(光束检测传感器)检测已通过光学组件的激光束的强度以校正激光输出(例如，参见未经审查的日本专利公报No.2002-248806)。

然而，业已发现，在使用中导致的反射表面上的灰尘不会均匀地发展至整个反射面。根据发明人的经验，沿旋转方向的首端比其它各部分更脏。这带来的问题是，检测由反射面的首端反射的激光束的BD传感器不能检测到激光束。

图14A-14C为示出常规成像设备中的反射面上的灰尘的状态的示意图。图14A示出初始状态，其中多面镜211R的侧面(反射面)一点也不脏。当成像设备从图14A所示的状态开始使用时，反射面进入图14B所示的状态，随后进入图14C所示的状态。当该设备使用的时间增加时(当多面镜211旋转的累积时间增加时)，灰尘273沉积于多面镜211的反射面上。图14B和14C中明显可见，沿旋转方向靠近首端212的灰尘比反射面其它部分上的灰尘更多。

图15A-15C为示出激光束随着多面镜211的反射面之一的旋转而偏转成常规成像设备中的扫描光束的状态的示意图。如图15A-15C所示，当灰尘沉积至反射面的前端212上时，对扫描开始端进行扫描的激光束的反射率减小。

灰尘273为何如图14A-14C所示选择性地沉积至反射面211R的首端212上的原因设想如下。多面镜的旋转产生的气流使沉积于多面镜的反射面上的灰尘下降。然而，在反射面的首端产生过多的气流A(见下图)，使得所述气流不在活动。因此，与其它部分相比，反射面首端上沉积的灰尘就难以去除。

尽管激光输出可如未经审查的日本专利公报No.2002-248806所述进行校正，但是随着灰尘变多所述输出很快就超出可校正的范围。倘若如此，除非清洁多面镜的反射面，否则就不能检测到激光束。

发明内容

本发明虑及上述情况而实现，并且其目的在于提供一种与常规情况相比即使多面镜的反射面随着使用而变脏也能够延迟清洁周期的技术。

本发明提供一种成像设备，其包括：多面体马达，其使等边多面柱形状的反射构件绕着反射构件的轴线旋转；激光发射部，其向旋转的反射构件的侧面发射激光束；光电导体，其由从反射构件的侧面反射的激光束扫描；光束检测部，其分别检测扫描开始位置的反射激光束和扫描结束位置的反射激光束，所述扫描开始位置为即将开始扫描所述光电导体之前的位置，所述扫描结束位置为紧随结束扫描所述光电导体之后的位置；以及，控制部，其基于来自光束检测部的检测信号控制多面体马达和激光发射部，其中，当扫描开始位置的检测信号不满足预定的基于时间的标准和/或预定的输出水平标准时，控制部判定设备处于检测信号未被正常输出的状态或者处于检测信号预计不会被正常输出的状态，并且控制部控制多面体马达使反射构件反向旋转。

在按照本发明的成像设备中，当控制部判定该设备处于所述扫描开始端的检测信号未被正常输出的状态时，所述控制部按照如此的方式控制多面体马达以致反射构件沿反向旋转。因此，即使在使用时所述反射构件的反射面(侧面)上的灰尘变多并且该设备到了扫描开始端的检测信号未被正常输出的状态时，使反射构件的旋转方向反向以便能再次检测扫描开始端的检测信号。因而，即使多面镜的反射面随着使用而变脏，其清洁周期能够比常规时间延迟得很多。优选地，清洁周期能够延迟为常规情况下的清洁周期的大约两倍。

附图说明

图1为示出按照本发明的成像设备的示意构造的示意图；

图2为示出按照本发明的激光扫描光学系统的构造的示意图；

图3为示出按照本发明的成像设备中的控制部(主要是激光控制电路)的功能构造的框图；

图4为示出当图3所示的激光控制电路正常运行时本发明的信号波形的波形图；

图5为示出在图3所示的激光控制电路中的中央处理器(CPU)改变了多面体马达的旋转方向之后本发明的激光控制电路的每个信号波形的波形图；

图6为示出按照本发明的激光扫描光学系统的修改的示意图；