[发明专利]包装中的X射线检测有效

专利信息
申请号: 200910134609.7 申请日: 2009-02-13
公开(公告)号: CN101545873A 公开(公告)日: 2009-09-30
发明(设计)人: V·科根;D·贝克尔斯;J·伯尔兹;C·W·莱曼;H·G·施维姆;K-J·史蒂芬斯 申请(专利权)人: 帕纳科有限公司
主分类号: G01N23/201 分类号: G01N23/201
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 屠长存
地址: 荷兰阿*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 包装 中的 射线 检测
【权利要求书】:

1.一种用于检查在包装内包括药剂形态的药物产品的系统,包 括:

测量系统,其具有用于产生X射线的X射线源、X射线光学器 件、用来检测X射线以获得测量的X射线特征的X射线检测器;

保持器,其用于承载所述包装,在所述包装内具有药剂形态用于 由测量系统进行测量;

数据库,其包含用于至少一种药物产品的一个或多个参考X射 线特征;以及

比较装置,其用来比较测量的X射线特征和参考X射线特征;

其特征在于:

该X射线光学器件被设置成用于产生汇聚和/或平行射束;

该X射线检测器被安装在测角器上,用于检测作为角度的函数 的X射线作为所述测量的X射线特征;以及

其特征还在于:控制器驱动保持器将测量系统与药剂形态上的至 少一个预定位置对准,以用于测量,其中所述数据库包括给出了用于 至少一种相应药物产品的药剂形态上的预定位置的数据。

2.根据权利要求1所述的系统,其中X射线源以多个特征波长 产生X射线,并且其中所述数据库包含特征波长处的相应的参考X 射线特征。

3.根据权利要求1或2所述的系统,其中:

控制器被设置成用于控制保持器,用于获得在药剂形态和测量系 统的多个预定位置处的多个测量的X射线特征;以及

比较装置被设置成用来比较测量的X射线特征和多个参考X射 线特征。

4.根据权利要求1或2所述的系统,其中:

控制器被设置成用于控制保持器以获得不同类型的多个测量的 X射线特征;以及

比较装置被设置成用来比较所述测量的X射线特征和多个参考 X射线特征。

5.根据权利要求1或2所述的系统,其中控制器被设置成用于控 制保持器,从而获得作为保持器水平位置的函数的X射线吸收的测 量,以及用于根据作为位置的函数的X射线吸收的所获得的测量来对 准所述保持器,从而使药剂形态的至少一个预定位置与测量系统对 准。

6.根据权利要求1或2所述的系统,其中存储在数据库中的参考 特征包括多个与有效药物成分、赋形剂、涂层、包装或其组合相关的 参考特征。

7.根据权利要求1或2所述的系统,其中控制器被设置成用于水 平对准所述保持器、随后垂直对准所述保持器,然后在至少一个预定 位置中对准药剂形态。

8.根据权利要求1或2所述的系统,其中X射线光学器件被设置 成用于在X射线检测器上聚焦X射线束,从而以透射几何图形测量X 射线特征。

9.根据权利要求1或2所述的系统,其中X射线检测器是测量作 为位置的函数的X射线的像素检测器。

10.根据权利要求1或2所述的系统,其中X射线特征包含X 射线粉末衍射特征。

11.根据权利要求1或2所述的系统,其中X射线特征包含小角 度X射线散射特征。

12.根据权利要求1或2所述的系统,其中X射线特征包含药剂 形态的几何尺寸。

13.一种用于检查在包装内包括药剂形态的药物产品的方法,包 括:

在保持器上安放药物产品;

将药物产品与测量系统对准,该测量系统具有用于产生X射线 的X射线源、X射线光学器件以及用来检测X射线的X射线检测器;

从数据库获得指定药品的特定部分的信息;

在所述药品的特定部分上测量作为衍射角度的函数的X射线特 征;

比较测量的X射线特征与参考X射线特征;

其中对于至少一种相应的药物产品,数据库包括给出了所述药品 的特定部分的数据。

14.根据权利要求13所述的方法,包括在进行测量前将药品定位 在包装空腔中的特定位置。

15.根据权利要求13或14所述的方法,包括在药品的多个不同 的特定部分上测量作为衍射角度的函数的多个X射线特征。

16.根据权利要求13或14所述的方法,还包括对准药品,以使 得X射线束采用从样品的一侧穿透到另一侧的最短路径。

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