[发明专利]用于校准多轴计量系统的几何形状的方法有效
申请号: | 200910135491.X | 申请日: | 2004-11-18 |
公开(公告)号: | CN101539413A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
发明(设计)人: | 保罗·墨菲;乔恩·弗里格;格雷格·福布斯 | 申请(专利权)人: | QED国际科技公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B9/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王新华 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 校准 计量 系统 几何 形状 方法 | ||
1.一种利用嵌入式量具和测试表面来确定机械定位系统的几何常数的方法,其中所述系统包括X,Y和Z平动轴以及A,B和C转动轴,其中常数包括平动轴的横向比例、转动轴之间的空间间距、以及量具焦点相对于机器工作台的轴向位置,所述方法包括以下步骤:
a)提供具有聚焦元件的所述嵌入式量具;
b)将具有测试表面的测试零件安装到所述机器工作台上;
c)将所述转动轴的位置设为零;
d)沿着所述X和Y轴的至少一个移动所述工作台,使得所述A轴经过所述量具的焦点;
e)调整所述平动轴,使得所述测试表面与所述嵌入式量具共焦;
f)将所述转动轴之一转动到新的角度值;
g)通过调整所述平动轴将所述测试零件重新定位在所述共焦位置处;
h)记录达到所述共焦状态的轴的位置;
i)对所述转动轴的几个不同位置重复步骤f)和g);以及
j)对所述机器几何外形的分析模型执行数值拟合,以提供所述机械定位系统的所述几何常数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于QED国际科技公司,未经QED国际科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910135491.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:画面形成系统、画面形成方法以及程序
- 下一篇:测定系统