[发明专利]用于校准多轴计量系统的几何形状的方法有效

专利信息
申请号: 200910135491.X 申请日: 2004-11-18
公开(公告)号: CN101539413A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 保罗·墨菲;乔恩·弗里格;格雷格·福布斯 申请(专利权)人: QED国际科技公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B9/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王新华
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 校准 计量 系统 几何 形状 方法
【权利要求书】:

1.一种利用嵌入式量具和测试表面来确定机械定位系统的几何常数的方法,其中所述系统包括X,Y和Z平动轴以及A,B和C转动轴,其中常数包括平动轴的横向比例、转动轴之间的空间间距、以及量具焦点相对于机器工作台的轴向位置,所述方法包括以下步骤:

a)提供具有聚焦元件的所述嵌入式量具;

b)将具有测试表面的测试零件安装到所述机器工作台上;

c)将所述转动轴的位置设为零;

d)沿着所述X和Y轴的至少一个移动所述工作台,使得所述A轴经过所述量具的焦点;

e)调整所述平动轴,使得所述测试表面与所述嵌入式量具共焦;

f)将所述转动轴之一转动到新的角度值;

g)通过调整所述平动轴将所述测试零件重新定位在所述共焦位置处;

h)记录达到所述共焦状态的轴的位置;

i)对所述转动轴的几个不同位置重复步骤f)和g);以及

j)对所述机器几何外形的分析模型执行数值拟合,以提供所述机械定位系统的所述几何常数。

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