[发明专利]半导体封装用环氧树脂组合物以及使用该组合物的半导体器件有效

专利信息
申请号: 200910137128.1 申请日: 2009-05-07
公开(公告)号: CN101575440A 公开(公告)日: 2009-11-11
发明(设计)人: 惠藤拓也;襖田光昭;铃木利道 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: C08L63/00 分类号: C08L63/00;C08L61/06;C08K3/22;H01L23/29;H01L23/31
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 王海川;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 环氧树脂 组合 以及 使用 半导体器件
【权利要求书】:

1.一种半导体封装用环氧树脂组合物,所述环氧树脂组合物包括 如下成分(A)至(C)并进一步包括作为阻燃剂的如下成分(D):

(A)环氧树脂;

(B)酚醛树脂;

(C)无机填料;和

(D)氢氧化铝粉末,所述氢氧化铝粉末的50%体积累积粒径D50(μ m)为1.5~5μm,BET比表面积S(m2/g)为3.3/D50≤S≤4.2/D50,且D50/D10比值为1.5~4,其中D10为所述氢氧化铝粉末的10%体积累积粒径。

2.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中在将10mg所述氢氧 化铝粉末用作样品、并且加热速率为10℃/分钟下通过差示扫描量热法 (DSC)测定的所述(D)氢氧化铝粉末的吸热起始温度为240℃以上且吸 热峰值温度为280~310℃。

3.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中在将10mg所述氢氧 化铝粉末用作样品、并且加热速率为10℃/分钟下通过差示扫描量热法 (DSC)测定的所述(D)氢氧化铝粉末的峰值吸热量为2.5~3.5W/mg。

4.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中基于所述环氧树脂组 合物的总量,所述(C)无机填料和所述(D)氢氧化铝粉末的总含量为 70~90重量%。

5.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中基于所述环氧树脂组 合物的总量,所述(D)氢氧化铝粉末的含量为3~40重量%。

6.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中基于所述(C)无机填料 和所述(D)氢氧化铝粉末的总量,所述(D)氢氧化铝粉末的含量为5~50 重量%。

7.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其进一步包括酸性脱模剂。

8.一种半导体器件,其通过用根据权利要求1的环氧树脂组合物 对半导体元件进行树脂封装而获得。

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