[发明专利]半导体封装用环氧树脂组合物以及使用该组合物的半导体器件有效
申请号: | 200910137128.1 | 申请日: | 2009-05-07 |
公开(公告)号: | CN101575440A | 公开(公告)日: | 2009-11-11 |
发明(设计)人: | 惠藤拓也;襖田光昭;铃木利道 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | C08L63/00 | 分类号: | C08L63/00;C08L61/06;C08K3/22;H01L23/29;H01L23/31 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王海川;穆德骏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 封装 环氧树脂 组合 以及 使用 半导体器件 | ||
1.一种半导体封装用环氧树脂组合物,所述环氧树脂组合物包括 如下成分(A)至(C)并进一步包括作为阻燃剂的如下成分(D):
(A)环氧树脂;
(B)酚醛树脂;
(C)无机填料;和
(D)氢氧化铝粉末,所述氢氧化铝粉末的50%体积累积粒径D50(μ m)为1.5~5μm,BET比表面积S(m2/g)为3.3/D50≤S≤4.2/D50,且D50/D10比值为1.5~4,其中D10为所述氢氧化铝粉末的10%体积累积粒径。
2.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中在将10mg所述氢氧 化铝粉末用作样品、并且加热速率为10℃/分钟下通过差示扫描量热法 (DSC)测定的所述(D)氢氧化铝粉末的吸热起始温度为240℃以上且吸 热峰值温度为280~310℃。
3.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中在将10mg所述氢氧 化铝粉末用作样品、并且加热速率为10℃/分钟下通过差示扫描量热法 (DSC)测定的所述(D)氢氧化铝粉末的峰值吸热量为2.5~3.5W/mg。
4.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中基于所述环氧树脂组 合物的总量,所述(C)无机填料和所述(D)氢氧化铝粉末的总含量为 70~90重量%。
5.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中基于所述环氧树脂组 合物的总量,所述(D)氢氧化铝粉末的含量为3~40重量%。
6.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其中基于所述(C)无机填料 和所述(D)氢氧化铝粉末的总量,所述(D)氢氧化铝粉末的含量为5~50 重量%。
7.根据权利要求1的环氧树脂组合物,其进一步包括酸性脱模剂。
8.一种半导体器件,其通过用根据权利要求1的环氧树脂组合物 对半导体元件进行树脂封装而获得。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日东电工株式会社,未经日东电工株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910137128.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:组合式振动粉碎机
- 下一篇:低操作压力反渗透装置