[发明专利]用于废气传感器的再生装置及使用该装置的气体控制系统有效
申请号: | 200910139081.2 | 申请日: | 2009-05-15 |
公开(公告)号: | CN101603469A | 公开(公告)日: | 2009-12-16 |
发明(设计)人: | 山本匠实;小坂友二 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | F02D41/00 | 分类号: | F02D41/00;F02D43/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王永建 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 废气 传感器 再生 装置 使用 气体 控制系统 | ||
1.一种用于使检测内燃机(2)的废气通道(100)中的废气成分的废 气传感器(70)再生的再生装置(90),所述再生装置(90)包括:
用于检测废气传感器(70)的响应时长的检测单元(S300、S322);
用于判定所述响应时长是否等于或长于预定时长(R1)的判定单元 (S302、S324);
废气温度控制单元(S312、S336),其用于在所述判定单元(S302、S324) 判定所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)时,控制废气 温度升高部分(4),以升高废气通道(100)中废气的废气温度(ET),以 便清除粘附到所述废气传感器(70)上的微粒;
流速控制单元(S306、S330),其用于在所述判定单元(S302、S324) 判定所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)时,控制流速 提高部分(50),以提高废气通道(100)中废气的流速(FR),以便清除粘 附到废气传感器(70)上的微粒。
2.如权利要求1所述的再生装置(90),其特征在于,
当所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)并且当所述 流速(FR)等于或低于预定速度(V1)时,所述流速控制单元(S306、S330) 控制所述流速提高部分(50),以提高废气通道(100)中废气的流速(FR), 以及
当所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)并且当所述 流速(FR)高于所述预定速度(V1)时,所述流速控制单元(S306、S330) 控制所述流速提高部分(50),以禁止提高废气通道(100)中废气的流速 (FR)。
3.如权利要求1所述的再生装置(90),其特征在于,
当所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)并且当所述 废气温度(ET)等于或低于预定温度(K1)时,所述废气温度控制单元(S312、 S336)控制所述废气温度升高部分(4),以升高废气通道(100)中废气的 废气温度(ET),以及
当所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)并且当所述 废气温度(ET)高于所述预定温度(K1)时,所述废气温度控制单元(S312、 S336)控制所述废气温度升高部分(4),以禁止升高废气通道(100)中废 气的废气温度(ET)。
4.如权利要求1-3中的一项所述的再生装置(90),其特征在于,还 包括:
再生时段估计单元(S326),其用于估计在用于收集废气中微粒的微粒 过滤器(40)的再生启动之前所经过的再生时段(RP),其中
当所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)并且当所述 再生时段(RP)等于或短于预定时段(T1)时,所述流速控制单元(S306、 S330)控制所述流速提高部分(50),以禁止提高废气通道(100)中废气 的流速(FR),以及
当所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)并且当所述 再生时段(RP)等于或短于所述预定时段(T1)时,所述废气温度控制单 元(S312、S336)控制所述废气温度升高部分(4),以禁止升高废气通道 (100)中废气的废气温度(ET)。
5.如权利要求4所述的再生装置(90),其特征在于,还包括:
用于基于从废气传感器(70)输出的输出信号而控制进气或排气的气 体控制单元(S320);和
气体控制阻止单元(S340),其用于在所述响应时长(CTP)等于或长 于所述预定时长(R1)并且在所述再生时段(RP)等于或短于所述预定时 段(T1)时,阻止所述气体控制单元(S320)基于从废气传感器(70)输 出的输出信号控制进气或排气。
6.如权利要求5所述的再生装置(90),其特征在于,
当所述气体控制阻止单元(S340)阻止气体控制单元(S320)基于从 废气传感器(70)输出的输出信号控制进气或排气时,所述气体控制单元 (S320)基于从用于检测进气量的空气流量计(12)输出的输出信号控制 进气或排气。
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