[发明专利]集成电路及配置集成电路的方法有效
申请号: | 200910139273.3 | 申请日: | 2009-04-23 |
公开(公告)号: | CN101567682A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
发明(设计)人: | T·艾克勒;A·汉尼伯格;D·赫比森;M·赫塞纳;C·施沃泽;M·特拉伯;H·温斯克 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H03K19/00 | 分类号: | H03K19/00;H05B37/02;H05B33/08;G01R19/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 柯广华;王忠忠 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 配置 方法 | ||
1.一种集成电路,包括:
输出端,耦合到发光二极管,
输出电路,耦合到所述输出端,所述输出电路包括发光二极管驱 动器并且适合给所述发光二极管提供工作信号,
测量电路,耦合到所述输出端,所述测量电路适合在所述输出端 上感测在所述发光二极管的工作状态之外的信号值,所述信号值是低 于发光二极管的阈值电压的电压或低于发光二极管的阈值电流的电 流,以及
控制电路,耦合到所述测量电路,所述控制电路适合基于由所述 测量电路所感测的所述信号值对所述集成电路的至少一种功能进行 控制。
2.如权利要求1所述的集成电路,其中,所述测量电路包括适合 将所感测信号值转换成数字值的模数转换器。
3.如权利要求2所述的集成电路,其中,所述控制电路适合从所 述测量电路接收所述数字值,且包括适合存储所述数字值的存储器。
4.如权利要求1所述的集成电路,其中,所述测量电路包括耦合 到所述输出端的测试信号源,所述测试信号源适合向所述输出端提供 测试信号。
5.如权利要求4所述的集成电路,其中,所述测试信号的值选择 成处于所述发光二极管的工作状态之外。
6.如权利要求4所述的集成电路,其中,所述测试信号为测试电 流,且
其中,所述测量电路适合感测所述输出端上的电压。
7.如权利要求4所述的集成电路,其中,所述测试信号为测试电 压,且
其中,所述测量电路适合感测流经所述输出端的电流。
8.如权利要求4所述的集成电路,其中,所述测量电路适合在相 对于激活所述测试信号的时间点的至少两个不同时间点感测所述输 出端上的所述信号值。
9.一种电子装置,包括:
集成电路,以及
发光二极管,耦合到所述集成电路的输出端,
其中,所述集成电路包括:
输出电路,耦合到所述输出端,所述输出电路包括发光二极管驱 动器并且适合给所述发光二极管提供工作信号,
测量电路,耦合到所述输出端,所述测量电路适合在所述输出端 上感测在所述发光二极管的工作状态之外的信号值,所述信号值是低 于发光二极管的阈值电压的电压或低于发光二极管的阈值电流的电 流,以及
控制电路,耦合到所述测量电路,所述控制电路适合基于由所述 测量电路所感测的所述信号值对所述集成电路的至少一种功能进行 控制。
10.如权利要求9所述的电子装置,包括:
配置电路,耦合到所述集成电路的所述输出端。
11.如权利要求10所述的电子装置,其中,所述配置电路包括配 置电阻器。
12.如权利要求11所述的电子装置,其中,在100Ω到100kΩ 的范围中选择所述配置电阻器的电阻值。
13.如权利要求10所述的电子装置,其中,所述配置电路包括配 置电容器。
14.如权利要求10所述的电子装置,其中,所述测量电路包括耦 合到所述输出端的测试信号源,所述测试信号源适合以经过所述输出 端的电流基本只流过所述配置电路的方式向所述输出端提供测试信 号。
15.一种配置集成电路的方法,包括:
将发光二极管耦合到所述集成电路的输出端,
在所述输出端上感测在所述发光二极管的工作状态之外的信号 值,所述信号值是低于发光二极管的阈值电压的电压或低于发光二极 管的阈值电流的电流,以及
基于所述所感测信号值对所述集成电路的至少一种功能进行控 制。
16.如权利要求15所述的方法,包括:
将配置电路耦合到所述输出端。
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