[发明专利]集成电路及配置集成电路的方法有效

专利信息
申请号: 200910139273.3 申请日: 2009-04-23
公开(公告)号: CN101567682A 公开(公告)日: 2009-10-28
发明(设计)人: T·艾克勒;A·汉尼伯格;D·赫比森;M·赫塞纳;C·施沃泽;M·特拉伯;H·温斯克 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H03K19/00 分类号: H03K19/00;H05B37/02;H05B33/08;G01R19/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 柯广华;王忠忠
地址: 德国瑙伊比*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 配置 方法
【权利要求书】:

1.一种集成电路,包括:

输出端,耦合到发光二极管,

输出电路,耦合到所述输出端,所述输出电路包括发光二极管驱 动器并且适合给所述发光二极管提供工作信号,

测量电路,耦合到所述输出端,所述测量电路适合在所述输出端 上感测在所述发光二极管的工作状态之外的信号值,所述信号值是低 于发光二极管的阈值电压的电压或低于发光二极管的阈值电流的电 流,以及

控制电路,耦合到所述测量电路,所述控制电路适合基于由所述 测量电路所感测的所述信号值对所述集成电路的至少一种功能进行 控制。

2.如权利要求1所述的集成电路,其中,所述测量电路包括适合 将所感测信号值转换成数字值的模数转换器。

3.如权利要求2所述的集成电路,其中,所述控制电路适合从所 述测量电路接收所述数字值,且包括适合存储所述数字值的存储器。

4.如权利要求1所述的集成电路,其中,所述测量电路包括耦合 到所述输出端的测试信号源,所述测试信号源适合向所述输出端提供 测试信号。

5.如权利要求4所述的集成电路,其中,所述测试信号的值选择 成处于所述发光二极管的工作状态之外。

6.如权利要求4所述的集成电路,其中,所述测试信号为测试电 流,且

其中,所述测量电路适合感测所述输出端上的电压。

7.如权利要求4所述的集成电路,其中,所述测试信号为测试电 压,且

其中,所述测量电路适合感测流经所述输出端的电流。

8.如权利要求4所述的集成电路,其中,所述测量电路适合在相 对于激活所述测试信号的时间点的至少两个不同时间点感测所述输 出端上的所述信号值。

9.一种电子装置,包括:

集成电路,以及

发光二极管,耦合到所述集成电路的输出端,

其中,所述集成电路包括:

输出电路,耦合到所述输出端,所述输出电路包括发光二极管驱 动器并且适合给所述发光二极管提供工作信号,

测量电路,耦合到所述输出端,所述测量电路适合在所述输出端 上感测在所述发光二极管的工作状态之外的信号值,所述信号值是低 于发光二极管的阈值电压的电压或低于发光二极管的阈值电流的电 流,以及

控制电路,耦合到所述测量电路,所述控制电路适合基于由所述 测量电路所感测的所述信号值对所述集成电路的至少一种功能进行 控制。

10.如权利要求9所述的电子装置,包括:

配置电路,耦合到所述集成电路的所述输出端。

11.如权利要求10所述的电子装置,其中,所述配置电路包括配 置电阻器。

12.如权利要求11所述的电子装置,其中,在100Ω到100kΩ 的范围中选择所述配置电阻器的电阻值。

13.如权利要求10所述的电子装置,其中,所述配置电路包括配 置电容器。

14.如权利要求10所述的电子装置,其中,所述测量电路包括耦 合到所述输出端的测试信号源,所述测试信号源适合以经过所述输出 端的电流基本只流过所述配置电路的方式向所述输出端提供测试信 号。

15.一种配置集成电路的方法,包括:

将发光二极管耦合到所述集成电路的输出端,

在所述输出端上感测在所述发光二极管的工作状态之外的信号 值,所述信号值是低于发光二极管的阈值电压的电压或低于发光二极 管的阈值电流的电流,以及

基于所述所感测信号值对所述集成电路的至少一种功能进行控 制。

16.如权利要求15所述的方法,包括:

将配置电路耦合到所述输出端。

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