[发明专利]磁盘加密位锁测试方法无效

专利信息
申请号: 200910140388.4 申请日: 2009-07-21
公开(公告)号: CN101964037A 公开(公告)日: 2011-02-02
发明(设计)人: 彭辉;陈志丰 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G06F21/04 分类号: G06F21/04
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 陈红
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 磁盘 加密 测试 方法
【说明书】:

技术领域

发明是有关于一种数字数据处理方法,且特别是有关于一种加密的数字数据处理方法。

背景技术

磁盘加密位锁(bitlocker)是窗口操作系统提供的重要功能,其可对磁盘系统进行加密,以防止数据的外泄。通常在磁盘系统透过磁盘加密位锁加密后,在开机时需要进行解密的动作。然而,在长时间的操作下,磁盘加密位锁于计算机系统的运作是否能维持正常,需要经过审慎的测试才能得知。

因此,如何设计一个新的磁盘加密位锁测试方法,以有效的测试磁盘加密位锁的运作,乃为此一业界亟待解决的问题。

发明内容

因此,本发明的目的在于提供一个磁盘加密位锁测试方法,以有效的测试磁盘加密位锁的运作。

本发明的一实施例是提供一种磁盘加密位锁测试方法,用于计算机系统,其中计算机系统包含磁盘系统模块以及通用序列总线(Universal Serial Bus;USB)硬盘,磁盘加密位锁测试方法包含下列步骤:根据该磁盘系统模块的一第一磁盘系统信息产生一磁盘系统信息快照;设定重启(reboot)参数及测试次数门槛参数;根据重启参数重启计算机系统,以撷取计算机系统的第二磁盘系统信息;判断第二磁盘系统信息及磁盘系统信息快照是否相符;当第二磁盘系统信息及磁盘系统信息快照相符时,使通用序列总线硬盘释出金钥;进入计算机系统的操作系统,以记录测试次数;以及判断测试次数是否超过测试次数门槛参数;其中当测试次数超过测试次数门槛参数时,结束测试,当测试次数未超过测试次数门槛参数时,再次根据重启参数重启该计算机系统。

本发明的另一实施例是提供一种磁盘加密位锁测试方法,用于计算机系统,其中计算机系统包含磁盘系统模块以及通用序列总线,磁盘加密位锁测试方法包含下列步骤:根据该磁盘系统模块的一第一磁盘系统信息产生一磁盘系统信息快照;设定重启参数及测试时间门槛参数;根据重启参数重启计算机系统,以撷取计算机系统的第二磁盘系统信息;判断第二磁盘系统信息及磁盘系统信息快照相符;当第二磁盘系统信息及磁盘系统信息快照相符时,使通用序列总线硬盘释出金钥;进入计算机系统的操作系统,以记录测试时间;以及判断测试时间是否超过测试时间门槛参数;其中当测试时间超过测试时间门槛参数时,结束测试,当测试时间未超过测试时间门槛参数时,再次根据重启参数重启该计算机系统。

应用本发明的优点在于通过设定重启参数及测试时间门槛参数或测试次数门槛参数,反复地重启计算机系统来进行大量的测试,而可确知磁盘加密位锁的运作是否仍能维持正常,而轻易地达到上述的目的。

附图说明

为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附附图的说明如下:

图1为本发明的一实施例的一计算机系统的示意图;

图2为本发明的一实施例的磁盘加密位锁测试方法的流程图;

图3为本发明的另一实施例的磁盘加密位锁测试方法的流程图

图4为本发明的又一实施例的磁盘加密位锁测试方法的流程图;以及

图5为本发明的再一实施例的磁盘加密位锁测试方法的流程图。

【主要组件符号说明】

1:计算机系统                   10:磁盘系统模块

11:磁盘系统信息                12:通用序列总线硬盘

13:比对结果                    14:输入接口

15:金钥                        16:磁盘系统信息快照

17:密码                        18:处理模块

201-208:步骤                   301-310:步骤

401-408:步骤                   501-510:步骤

具体实施方式

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