[发明专利]源于有效原子序数计算的材料成分检测

权利要求书

1.一种计算通过放射线形态检查的材料的原子序数的方法，所述方法包括：

访问物体的第一单色图像和第二单色图像(66，76)，所述第一单色图像在第一能量级采集，并且所述第二单色图像在第二能量级采集；

获得所述第一单色图像与所述第二单色图像之间的质量衰减系数的比率(68，78)；以及

基于质量衰减系数的所述比率来计算关于所述物体的材料的原子序数(70)。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述第一单色图像和所述第二单色图像从材料密度图像获得。

3.如权利要求1所述的方法，其中质量衰减系数的所述比率在逐像素基础上、基于所述第一单色图像和所述第二单色图像获得(78)。

4.如权利要求1所述的方法，还包括确定用于基于预定的阈值从质量衰减系数来获得原子序数图像的传递函数，其中通过计算在所述第一和第二能量级两个或更多元素的质量衰减系数的比率来确定所述传递函数。

5.如权利要求4所述的方法，其中所述预定的阈值对应于应用的最小线性衰减值或图像噪声值(86)。

6.如权利要求1所述的方法，还包括分析所述原子序数以识别所述物体的材料成分。

7.如权利要求1所述的方法，还包括通过基于阈值变换比率图像(80)来生成原子序数图像。

8.一种图像分析系统，包括：

成像源(14)，配置成产生成像光束(42)；

检测器(16)，配置成检测穿过物体(20)的所述成像光束；以及

处理器，配置成：

采集所述物体的第一单色图像和第二单色图像(66，76)，其中所述第一单色图像在第一能量级采集，并且所述第二单色图像在第二能量级采集；

计算所述第一单色图像和所述第二单色图像的像素之间的质量衰减系数的比率(68，78)；

基于质量衰减系数的所述比率来计算原子序数(70)；以及

分析所述原子序数以识别所述物体的材料成分(72)。

9.如权利要求8所述的图像分析系统，其中所述处理器配置成在逐像素基础上、基于所述第一单色图像和所述第二单色图像，来获得质量衰减系数的所述比率(78)。

10.一种计算机可读介质，包括：

适用于访问物体的第一单色图像和第二单色图像的代码，其中所述第一单色图像在第一能量级采集，并且所述第二单色图像在第二能量级采集(76)；

适用于获得所述单色图像之间的质量衰减系数的比率的代码(78)；以及

适用于基于质量衰减系数的所述比率来计算关于所述物体的材料的原子序数的代码(70)。