[发明专利]光束扫描装置、激光加工装置、测试方法和激光加工方法有效

专利信息
申请号: 200910141138.2 申请日: 2009-05-22
公开(公告)号: CN101587241A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 上田伸治 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G02B26/08 分类号: G02B26/08;B23K26/00;G01B11/26;G01B7/30;G05D3/20
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 康建忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光束 扫描 装置 激光 加工 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种用于扫描光束的装置,该装置包括:

反射镜(2),被配置为使入射光束反射;

马达(1),被配置为使所述反射镜(2)旋转,以改变被所述反 射镜(2)反射的光束行进的方向;

检测器(DT1,DT2,DT3),被配置为检测所述反射镜(2)的 被检测区域(6,13,16)相对于所述反射镜(2)的旋转角的倾斜; 以及

处理器(50),被配置为基于所述反射镜的旋转角和所述检测器 所检测到的所述被检测区域(6,13,16)的倾斜,计算所述反射镜相 对于沿所述马达(1)的旋转轴的方向的倾斜量,其中,所述反射镜的 倾斜由沿旋转轴的方向与所述反射镜(2)的反射表面之间的角度(θt) 表示。

2.根据权利要求1所述的装置,其中,当所述反射镜的倾斜量 超过允许值时,所述处理器输出表示所述倾斜量超过所述允许值的出 错信号。

3.根据权利要求1所述的装置,其中,

所述反射镜(23)、所述马达(24)、所述检测器(25)和所述 处理器(25)构成第一单元,

所述装置还包括第二单元,所述第二单元包括:第二反射镜(28), 被配置为使入射光束反射;第二马达(29),被配置为使所述第二反 射镜(28)旋转,以改变被所述第二反射镜(28)反射的光束行进的 方向;第二检测器(30),被配置为检测所述第二反射镜的第二被检 测区域相对于所述第二反射镜的旋转角的倾斜;以及第二处理器(30), 被配置为基于所述第二反射镜(28)的旋转角和所述第二检测器所检 测到的所述第二被检测区域的倾斜,计算所述第二反射镜相对于沿所 述第二马达(29)的旋转轴的方向的倾斜量,以及

补偿单元(20),被配置为通过所述第二单元的所述第二反射镜 (28)的旋转角补偿所述第一单元的所述反射镜(23)的倾斜量,并 且通过所述第一单元的所述反射镜(23)的旋转角补偿所述第二单元 的所述第二反射镜(28)的倾斜量,以及

所述第一单元的所述马达(24)的旋转轴垂直于所述第二单元的 所述第二马达(29)的旋转轴。

4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述检测器包括:照射 单元,被配置为用检测光照射所述反射镜;以及传感器,具有接收被 所述反射镜反射的检测光的光接收表面,并且所述检测器基于所述检 测光入射所述光接收表面的位置检测所述反射镜的倾斜。

5.根据权利要求1所述的装置,其中,所述检测器包括干涉仪。

6.根据权利要求1所述的装置,其中,所述检测器包括静电电 容传感器。

7.一种激光加工装置,包括:

权利要求1所定义的用于扫描光束的装置;

激光装置,被配置为用激光照射所述用于扫描光束的装置的所述 反射镜,其中,通过所述反射镜的旋转角控制要加工的工件上的激光 照射位置,以及

控制单元,被配置用于如果所述反射镜的倾斜落入允许值内,则 使得所述激光装置利用激光照射所述工件。

8.一种用于扫描光束的装置的测试方法,所述装置包括被配置 为使入射光束反射的反射镜(2)、以及被配置为使所述反射镜旋转以 改变被所述反射镜反射的光束行进的方向的马达(1),所述方法包括 下述步骤:

测量所述反射镜(2)的旋转角;

检测所述反射镜(2)的被检测区域(6,13,16)相对于所述旋 转角的倾斜;以及

基于所述反射镜(2)的旋转角和所述被检测区域(6,13,16) 的倾斜,获取所述反射镜(2)相对于沿所述马达(1)的旋转轴的方 向的倾斜量,其中,所述反射镜的倾斜由沿旋转轴的方向与所述反射 镜(2)的反射表面之间的角度(θt)表示。

9.一种激光加工方法,包括下述步骤:

通过权利要求8所定义的测试方法获取所述反射镜的倾斜量;以 及

在所述反射镜的倾斜量落入允许值内之后,通过用激光照射要加 工的工件来加工所述工件。

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