[发明专利]用于增加X射线管中的辐射传热的装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200910141789.1 申请日: 2009-05-15
公开(公告)号: CN101582365A 公开(公告)日: 2009-11-18
发明(设计)人: D·钟;D·M·格雷;M·赫伯特;D·M·利普金;T·拉伯;G·A·施泰恩拉格;T·C·蒂尔尼 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: H01J35/08 分类号: H01J35/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曾祥夌;杨松龄
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 增加 射线 中的 辐射 传热 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种用于产生x射线(14)的靶组件(56),包括:

靶基体(57);以及

施加到所述靶基体(57)的一部分的辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98),所述辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98)包含碳化物和碳氮化物中之一或多种。

2.如权利要求1所述的靶(56),其中,所述辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98)还包含稳定氧化物,其包括Al2O3、La2O3、Y2O3、ZrO2和HfO2中之一。

3.如权利要求1所述的靶(56),其中,所述辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98)包括碳化物,所述辐射涂层还包括Mo。

4.如权利要求1所述的靶(56),其中,所述辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98)包括多层的、分级的和复合微结构其中之一。

5.如权利要求1所述的靶(56),其中,所述辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98)是单相材料和多相材料中之一。

6.如权利要求1所述的靶(56),其中,经由化学汽相沉积(CVD)工艺、物理汽相沉积(PVD)工艺、热/等离子体喷涂工艺、冷喷涂工艺、反应钎焊工艺、钎焊工艺和覆层工艺其中之一来施加所述辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98)。

7.如权利要求1所述的靶(56),其中,所述碳化物和碳氮化物中之一包括族4元素、族5元素、族6元素和硼其中之一。

8.如权利要求1所述的靶(56),其中,所述辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98)是B4C、TiC、ZrC、HfC、TaC、Mo2C、ZrB2、HfB2、TiCxNy、ZrCxNy和HfCxNy其中之一。

9.如权利要求1所述的靶(56),其中,所述靶基体(57)包括靶面(99)和外缘(94),以及其中所述靶组件(56)还包括连到所述靶基体(57)的轴(59),以及其中所述辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98)施加到所述靶面(99)、所述外缘(94)和所述轴(59)其中之一。

10.如权利要求1所述的靶(56),其中,所述辐射涂层(67,81,85,89,92,94,97,98)包括碳化物,所述靶组件(56)还包括设置在所述碳化物与所述靶基体(57)之间的扩散阻挡层,所述扩散阻挡层是Ti、Zr、Hf的氮化物和碳氮化物中之一。

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