[发明专利]痕量钚样品中钚年龄测定方法有效

专利信息
申请号: 200910142190.X 申请日: 2009-06-05
公开(公告)号: CN101561417A 公开(公告)日: 2009-10-21
发明(设计)人: 陈彦;常志远;赵永刚;张继龙 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102413*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 痕量 样品 年龄 测定 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于放射性同位素测量技术领域,具体涉及痕量钚年龄的探测技术。 

背景技术

在核法医学和核查领域,需要探测痕量钚的年龄属性。国内外学者主要是用γ谱仪来进行钚年龄的测定。该方法针对的测量对象是钚材料,一般认为样品量最少需要100mg,对样品形状有一定的要求。对于量更小的样品,由于仪器探测限限制,γ谱仪测量钚年龄的偏差较大,所需的测量时间也较长。在Radiochim.Acta 96,(2008)327-331中,张海涛等人发展了α谱联合热表面电离质谱测量钚材料年龄的方法,他们所测量的样品中钚的总量在微克量级。在Journal ofRadioanalytical and Nuclear Chemistry,Vol.272,No.1(2007)45-51中,U.Nygren等人用电感耦合等离子体质谱对钚标准样品的钚年龄进行了测量,样品处理过程比较繁琐,对于武器级钚的年龄结果重复性不是很好。 

发明内容

(一)发明目的 

本发明根据现有技术的缺陷,提供一种简易的测定痕量钚样品中钚年龄的方法。 

(二)技术方案 

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案。 

一种痕量钚样品中钚年龄测定方法,是在样品中加入钚及其子体铀的同位素稀释剂242Pu、233U,加入浓硝酸进行加热调价,然后载入TEVA树脂柱,用化学分离的方法分别获得Pu组分、U组分,再用多接收电感耦合等离子体质谱分别进行测量Pu组分、U组分,得到240Pu/242Pu和236U/233U值。根据加入的稀释剂的量计算出240Pu/236U值,代入年龄计算方程(1)可以得到钚年龄。 

t=1λ1-λ2·ln[1-(λ2λ1-1)N2N1]---(1)]]>

式中,t是钚年龄,年。λ是放射性核的衰变常数,1n2/T1/2,N是测量时刻的放射性核原子数,下标1和2分别代表母核与子核,本发明是指240Pu和236U。 

所述的用化学分离的方法分别获得Pu组分、U组分的方法是,用2-4mol·L-1硝酸淋洗TEVA树脂柱收集铀组分后,用(0.1-0.5)mol·L-1硝酸-(0.01-0.10)mol·L-1草酸溶液淋洗收集钚组分。 

(三)实施效果 

本发明所提供的技术方案,化学分离过程简单,回收率高。流程空白本底与测量空白本底没有显著性差异,本底控制较好。样品分析时间短,方法准确性高。对于年龄在20年左右的钚样品,所测量的年龄结果与参考值偏差在5%以内。 

附图说明

图1测量钚年龄流程图。 

具体实施方式

下面结合附图,对本发明的技术方案作进一步阐述。 

实施例1 

本实施例按照如下步骤实施: 

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