[发明专利]光拾取装置

说明书

技术领域

本发明涉及光拾取装置，特别涉及光拾取装置的读出光学系统。

背景技术

光盘的1层的记录容量较大地取决于使用的半导体激光的波长和物镜的数值孔径(NA)。半导体激光的波长越短，或者NA越大，则越能够使记录密度变大，越能够增加每1层的容量。目前在市场中流通的光盘驱动器的主体是使用波长650nm附近的红色光和NA为0.6的物镜的DVD(Digital Versatile Disc：数字多功能盘)驱动器，而作为超过DVD的记录密度的技术方案，开发了以光波长405nm附近的蓝紫色的半导体激光为光源、使用NA为0.85的物镜的光盘驱动器，其在市场中占有的比例不断增加。作为使在现状下达到的记录密度进一步增加的方式，可以考虑使使用波长更短，但可以预想到该比蓝紫色短的紫外区域的半导体激光的开发是困难的。此外，关于物镜的高NA化，由于空气中的物镜的NA的极限是1，所以物镜的NA带来的记录密度的提高也变得困难。

在这样的状况下，作为使1片光盘的容量增加的方式而实施了双层化。在非专利文献1中介绍了双层相变盘的技术。在将激光照射在双层光盘上的情况下，同时照射相邻层，所以层间的串扰成为问题。为了减少该问题，进行使层间隔变大的措施。激光被聚光，除了作为目的的层(下文中称为“目标层”)以外其他层会偏离激光的聚光位置，所以能够减少串扰。

另一方面，如果扩大层间隔，则球面像差成为问题。记录层被埋入在与空气的折射率不同的聚碳酸酯中，球面像差根据距离盘表面的深度而不同。物镜设计为，使其球面像差对于特定的层变小，如果使激光的焦点移到其他层，则焦点位置离开表面的距离不同，所以产生球面像差。该像差通常可以通过将由两片透镜构成的扩束(expander)透镜光学系统或液晶元件放置在物镜的前方来修正。即，通过改变两片透镜的距离或液晶元件的相位能够修正像差。但是，如果考虑在小型的光盘驱动装置内实现液晶元件的可补偿范围或透镜的移动机构，则难以修正较大的球面像差。因而，多层整体的厚度被限制，在层数较多的多层光盘中层间隔变窄。因此，在实际的光盘驱动装置中残留有层间串扰。

为了减少上述串扰，根据专利文献1，利用在将来自多层光盘的反射光用透镜聚光时、作为目的的层与来自相邻层的反射光的聚光位置在光轴上不同的性质。使用两片由正1/4波长板与负1/4波长板构成的分割波长板，使分割方向一致而前后地配置。配置为，使来自目的层的反射光的聚光位置为两分割波长板之间。另一方面，作为杂光的来自目的层以外的反射光的聚光位置为由两分割波长板所夹的区域之外。通过采取这样的配置，能够使来自作为目的的层的反射光与来自除此以外的层的反射光的偏光方向在透射过两波长板后不同。为了仅将来自目的层的反射光取出，只要在两波长板的后方设置检光元件就可以。由此，能够减少来自其他层的串扰。在专利文献2中，使用两片3分割的分割波长板，将来自其他层的反射光除去。该方式适合于为了得到寻迹错误(tracking error)信号而使用3光束的差动推挽方式。但是，哪种方式都进行将来自光盘的反射光先向分割波长板聚光、回到聚光前的光束的形状的操作，所以需要新添加的透镜，不能避免装置的大型化。

【专利文献1】日本特开2006-344344号公报

【专利文献2】日本特开2007-310926号公报

【非专利文献1】Jpn.J.Appl.Phys.Vol.42(2003)pp.956-960

本发明的目的是不使光盘驱动装置大型化而减少多层盘中的串扰。

在图2中表示一般的光拾取装置的光学系统的概况。将从半导体激光器101射出的激光通过准直透镜403和三角棱镜102变换为圆形的准直后的光束。准直后的光束透过偏光性光束分离器103，通过λ/4板104变换为圆偏光，由物镜404汇聚到多层光盘501上。读出对象层是511，激光的最小光点的位置处于511上。512是相对于目标层的其他记录层。来自多层盘的反射光也包括杂光，在物镜404中返回，由λ/4板104变换为相对于原来的偏光方向正交的方向的直线偏光。因此，被偏光光束分离器103反射而朝向检测透镜系统406。在使用像散法的情况下，在检测透镜系统406中，除了聚光透镜以外还包括柱面透镜，将像散导入到检测透镜系统中。透过了检测透镜系统406的光被检测器52检测到。检测器的形状在使用像散法的情况下采用4分割检测器，由电路53制作用来控制物镜的焦点位置的聚焦错误信号、及用来追随旋转的光盘的圆周方向的信息串的寻迹错误信号。通过执行机构(actuator)进行物镜404的控制。