[发明专利]信息处理装置、存取装置、记录介质、信息处理方法及信息处理程序无效
申请号: | 200910147032.3 | 申请日: | 2005-10-14 |
公开(公告)号: | CN101697279A | 公开(公告)日: | 2010-04-21 |
发明(设计)人: | 宫下晴旬;南野顺一;中岛键 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/004 | 分类号: | G11B7/004;G11B19/02;G11B7/00;G11B7/007;G11B7/005;G11B7/24;G11B7/26 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息处理 装置 存取 记录 介质 方法 程序 | ||
1.一种信息处理装置,对记录于记录介质的规定信息进行处理,具备:
特性判别机构,其对所述记录介质的反射特性进行判别;和
处理机构,其根据判别后的所述反射特性来处理所述规定信息,
所述反射特性,是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方。
2.根据权利要求1所述的信息处理装置,其特征在于,
所述特性判别机构,根据特性信息即记录于所述记录介质的、表示所述第一特性和所述第二特性中至少一方的信息,判别所述反射特性。
3.根据权利要求2所述的信息处理装置,其特征在于,
所述记录介质,具有多个记录层,对与所述多个记录层的各个的所述反射特性对应的所述特性信息进行记录。
4.根据权利要求1所述的信息处理装置,其特征在于,
所述特性判别机构,根据由所述记录介质反射的光的反射大小,判别所述反射特性。
5.根据权利要求1所述的信息处理装置,其特征在于,
所述处理机构包括调制度运算机构,该调制度运算机构按照所判别出的所述反射特性来计算所述规定信息的调制度。
6.一种光盘装置,具备:
读取机构,其对记录于记录介质的规定信息进行读取;和
权利要求1所述的信息处理装置,其对所读取的所述规定信息进行处理。
7.一种记录介质,是信息被光学地再生的记录介质,
具有用于记录表示所述记录介质的特性的特性信息的特性信息保持区域,
所述特性信息,是表示所述记录介质是具有第一特性的记录介质、或者所述记录介质是具有第二特性的记录介质的信息,所述第一特性为由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率,所述第二特性为所述第一反射率小于所述第二反射率。
8.根据权利要求7所述的记录介质,其特征在于,
具有多个记录层,
所述特性信息保持区域记录与所述多个记录层的每一个对应的所述特性信息。
9.一种再生装置,是用于再生权利要求7所述的记录介质的再生装置,包括:
读出机构,从所述特性信息保持区域读出所述记录介质的特性信息;和
判别机构,基于所述特性信息,判别所述记录介质是具有所述第一特性的记录介质、或者是具有所述第二特性的记录介质。
10.一种信息处理方法,对记录于记录介质的规定信息进行处理,具备:
判别所述记录介质的反射特性的特性判别步骤;和
按照判别出的所述反射特性,处理所述规定信息的处理步骤,
所述反射特性,是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方。
11.一种信息处理程序,用于在对记录于记录介质的规定信息进行处理的信息处理装置中执行信息处理,具备:
判别所述记录介质的反射特性的特性判别步骤;和
根据判别出的所述反射特性,处理所述规定信息的处理步骤,
所述反射特性,是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方。
12.一种记录介质的制造方法,是信息被光学地再生的记录介质的制造方法,具有:
用于形成信息被光学地再生的记录层的步骤;和
在所述记录层上形成特性信息保持区域的步骤,所述特性信息保持区域用于记录表示所述记录介质的特性的特性信息,
所述特性信息,是表示所述记录介质是具有第一特性的记录介质、或者所述记录介质是具有第二特性的记录介质的信息,所述第一特性为由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率,所述第二特性为所述第一反射率小于所述第二反射率。
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