[发明专利]线性超声相控阵成像方法无效
申请号: | 200910148335.7 | 申请日: | 2009-06-16 |
公开(公告)号: | CN101923072A | 公开(公告)日: | 2010-12-22 |
发明(设计)人: | 徐春广;赵新玉;李爽;肖定国;周世圆;王立久;徐圆飞 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06;G01N29/44;G01B17/00 |
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地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 线性 超声 相控阵 成像 方法 | ||
1.一种线性超声相控阵成像方法,它包括单路信号采集、A扫波束合成、信号特征提取方法和超声图像处理方法。
2.如权利要求1所述的成像方法,其特征在于,单路信号采集是分别选择一组阵元或单个阵元分别作为发射阵元和接收阵元采集信号。
3.如权利要求1所述的线性超声相控阵成像方法,其特征在于,换能器的中心频率为7.5MHz,采样频率为50MHz,延迟精度为20ns。
4.如权利要求1所述的成像方法,其特征在于,A扫波束合成包括两个过程,分别是发射聚焦和接收聚焦;其中发射聚焦,首先根据焦点的位置,分别计算出每个阵元的延迟时间,然后对每个阵元接收到的8个回波信号单路信号先进行延迟,再进行叠加来实现。接收聚焦与发射聚焦的处理过程相同。
5.如权利要求1所述的成像方法,其特征在于,波束控制方法采用延迟叠加法,用软件是通过对每个阵元采集的信号根据延迟值平移和求和方法来实现的。
6.如权利要求1所述的成像方法,其特征在于,多组信号进行同相聚焦后,当焦点接近某个缺陷位置时,能够使该处的缺陷回波信号得到增强,电压幅值达到最大;利用这个特征,根据焦点和阵元位置之间的距离和超声在该介质中的声速计算出回波出现的时间,并从A扫数据中提取出相应的振幅来表示缺陷的位置。
7.如权利要求1所述的成像方法,其特征在于,超声B扫图像的辉度显示是基于目标点峰峰值的变化,即对于每一个目标点,其辉度=目标点峰峰值×255/所有目标点中最大峰峰值。
8.如权利要求1所述的成像方法,其特征在于,基于延迟叠加算法的超声相控阵成像,B扫图像中会存在一些伪缺陷,采用阈值二值化处理方法来提高图像的分辨率。
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