[发明专利]在光学记录介质上记录的方法和使用该方法的装置

权利要求书

1.一种用于将数据记录到具有记录层的一次写入光学记录介质的方法，所述记 录层包括数据区，所述数据区具有用户数据区、内部备用区和外部备用区，所述用 户数据区由多个簇组成，该方法包括以下步骤：

将临时缺陷表和临时光盘定义结构对记录到临时缺陷管理区，所述临时缺陷表 包括缺陷项目；以及

将空间位图和临时光盘定义结构对记录到临时缺陷管理区，所述空间位图包括 命名所述记录层的记录层信息和指定起始簇的第一物理区段数的起始位置信息，其 中所述临时光盘定义结构包括记录的光盘管理信息，所述记录的光盘管理信息包括 最后临时缺陷表和最后空间位图的每一个的第一物理区段数。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括步骤：

在完成对所述光学记录介质的记录时，将最后临时缺陷表和最后空间位图记录 到缺陷管理区。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述光学记录介质包括第一记 录层和第二记录层。

4.一种将数据记录到具有记录层的一次写入光学记录介质的装置，所述记录层 包括数据区，所述数据区具有用户数据区、内部备用区和外部备用区，所述用户数 据区由多个簇组成，所述装置包括：

拾取器，被配置将数据记录到光学记录介质；以及

微型计算机，被配置控制所述拾取器，

其中所述拾取器被配置将临时缺陷表和临时光盘定义结构对记录到临时缺陷管 理区，所述临时缺陷表包括缺陷项目；并且被配置将空间位图和临时光盘定义结构 对记录到临时缺陷管理区，所述空间位图包括记录层信息和起始位置信息，所述记 录层信息命名所述记录层，所述起始位置信息指定起始簇的第一物理区段数，

其中所述临时光盘定义结构包括记录的光盘管理信息，所述记录的光盘管理信 息包括最后临时缺陷表和最后空间位图的每一个的第一物理区段数。

5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，拾取器被配置为在完成对所述光学 记录介质的记录时，将最后临时缺陷表和最后空间位图记录到缺陷管理区。

6.如权利要求4或5所述的装置，其特征在于，所述光学记录介质包括第一记 录层和第二记录层。

7.如权利要求4或5所述的装置，其特征在于，还包括：

伺服器，被配置为控制拾取器以完成适当的跟踪同时相对于所述光学记录介质 保持一定距离；以及

数据处理器，被配置为处理将要记录到所述光学记录介质的数据。

8.一种用于从具有记录层的一次写入光学记录介质再现数据的方法，所述记录 层包括数据区，所述数据区具有用户数据区、内部备用区和外部备用区，所述用户 数据区由多个簇组成，该方法包括以下步骤：

从临时缺陷管理区再现临时缺陷表和临时光盘定义结构对，所述临时缺陷表包 括缺陷项目；以及

从临时缺陷管理区再现空间位图和临时光盘定义结构对，所述空间位图包括记 录层信息和起始位置信息，所述记录层信息命名所述记录层，所述起始位置信息指 定起始簇的第一物理区段数；

其中所述临时光盘定义结构包括记录的光盘管理信息，所述记录的光盘管理信 息包括最后临时缺陷表和最后空间位图的每一个的第一物理区段数。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，还包括步骤：

如果对记录介质的记录已经完成时，从缺陷管理区再现最后缺陷表和最后空间 位图。

10.如权利要求8或9所述的方法，其特征在于，还包括步骤：

基于从临时缺陷管理区再现的临时缺陷表或基于从缺陷管理区再现的最后缺陷 表再现记录在替换缺陷区的替换区内的数据。

11.如权利要求8或9所述的方法，其特征在于，还包括步骤：

基于从临时缺陷管理区再现的空间位图或基于从缺陷管理区再现的最后空间位 图确定被要求记录数据的特定区域是否含有已被记录的数据。