[发明专利]用于测试图像感测芯片的探针卡

说明书

技术领域

本发明涉及探针卡技术，特别是指一种有镜头组且用于测试图像感测芯片的探针卡。

背景技术

一般测试半导体芯片的探针卡，主要是作为测试机台与半导体芯片之间的连接对象，由测试机台提供电压使半导体芯片产生相对电性信号而进行测试。但是若为图像感测芯片(例如CCD或CMOS)的测试，则须将测试光线照射到图像感测芯片的光学感应区，芯片因受光线的照射会产生电性变化，并产生电性信号至所连接的探针卡及测试机台处。由于与现有的一般探针卡的要求不同，于是就有人设计了专用于图像感测芯片的探针卡。

此类用于图像感测芯片的探针卡，主要特殊之处是在电路板上具有一开口，使得外部的光线能照射至内部，并提供待测的图像感测芯片所需的光线。目前外部光线的照射方式，是直接提供一光源于探针卡的上方位置，此光源内部具有特殊的结构，当光源发亮时光线呈似平行光照射，大部分光线除了会经预先设定路径由电路板的开口处进入，到达电路板下方的测试区，但乃有部分光线会照射至电路板表面后反射回去，干扰到原本正常路径的光线，形成干涉现象，影响到测试结果。另外图像感测芯片有时也会对测试光线有特殊须求，例如是否能对不可见光(红外线)感应，此部分为了确保图像感测芯片在夜间仍能正常运作。此时测试光源则必须进行更换或使用不同设备加以辅助，非常麻烦又不方便。因此本发明人则思考设计另一种结构，使得用于测试图像感测芯片的探针卡在使用上更为方便，质量更好。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种具有镜头组且能用于测试图像感测芯片的探针卡，主要是探针卡内部具有镜头组能将光线作有效的处理与聚焦，让最后投射于测试图像感测芯片的光线最符合测试条件，通过此，让图像感测芯片测试的准确度更加提高。

本发明的次要目的是提供一种用于测试图像感测芯片的探针卡，由于本发明的探针卡具有一镜头组，该镜头组能将光线作有效的处理及聚焦，因此灯光单元产生光线后，即光线不须再经特殊的处理，如此能简化灯光单元的结构，使探针卡在设计上更为简单。

本发明的次要目的是提供一种用于测试图像感测芯片的垂直式探针卡，该探针卡内部可采用用弹簧式探针(spring probe)或垂直式可挠曲探针(Vertical Bending Probe)，配合本发明所使用的镜头组，与位于电路板的窗口，构成一组用于测试图像感测芯片的创新的垂直式探针卡。

为达成前述的目的，本发明包含有一电路板、一第一固定单元、多个探针、一第二固定单元、以及一灯光单元。该电路板具有一窗口，该第一固定单元结合于电路板下面，但未将该窗口遮蔽。前述多个探针是被第一固定单元定位于电路板下方位置。该第二固定单元结合于电路板上面。该镜头组则受该第二固定单元固定而位于电路板的上方位置，该镜头组对应着前述窗口的所在位置。另外该灯光单元设置于第二固定单元顶面，灯光单元能产生适当的光线。如此即为本发明用于测试图像感测芯片的探针卡。

另外本发明的探针卡所采用用的的探针并非单一型式，可依不同的须求选用合适的探针，而所使用的探针则可为弹簧式探针、垂直式可挠曲探针、悬臂式探针(cantilever probe)等，通过此增加本发明的适用范围。

附图说明

图1为本发明第一种实施例的结构剖面示意图；

图2为本发明的探针卡用于测试图像感测芯片的较佳实施例图；

图3为本发明的第二种实施例的结构剖面示意图；

图4为本发明的第三种实施例的结构剖面示意图。

【主要元件符号说明】

A探针卡

10电路板                11第一表面

12第二表面              13窗口

20第一固定单元

21第一固定件            211第一定位孔

22第二固定件            221第二定位孔

23第三固定件            231第三定位孔

20A第一固定单元

21A第一固定件           211A第一定位孔

22A第二固定件

23A第三固定件           231A第三定位孔

20B第一固定单元

24斜面

30探针

31第一接触件            32第二接触件

30A探针

30B探针

40第二固定单元

41结合区块              411内螺纹孔