[发明专利]多层光学记录介质、记录装置、以及记录激光功率调节方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种包括三个以上记录层的多层光学记录介质，例 如多层光盘，特别涉及在记录层中试写入区的设定。本发明还涉及 一种记录装置以及一种用于上述多层光学记录介质的记录激光功 率调节方法。

背景技术

现有技术包括国际专利申请公开第05/034110号和日本未审查 专利申请公开第2004-295940号。

例如，诸如蓝光光盘(注册商标)的光学记录介质已被普遍使 用。使用半导体激光将信息记录在光学记录介质上或者从光学记录 介质再生。

使用半导体激光在光盘上进行的记录受到由于温度改变或随 着时间改变而引起的激光功率改变、由于在制造过程中的调节误差 导致的各种各样的偏斜和偏移、以及在驱动控制下的记录条件改变 的极大影响。因此，特别是在记录型光盘中(例如一次写入光盘和 可重复写入光盘中)，抑制激光驱动电路以及光学装置的波动以进 行精确的光发射波形控制。

在实际的信息记录装置中，在用户数据即将进行实际记录前， 通常使用设置在每一记录层的试写入区进行最佳激光功率的搜索， 并且对记录激光功率和策略进行调整，从而使记录条件最佳化。

在用于记录激光功率调节的此试写入过程中，上述扰动等的去 除、记录功率的最佳化、以及激光驱动脉冲的最佳化是在最佳记录 条件未知的情况下进行的。在搜索最佳条件的过程中，有时候会发 生不必要的高能量的激光的使用或者不适当宽度(激光发射时间周 期)的激光驱动脉冲的激光的使用。这样的激光施加可对在记录层 中的试写入区造成严重的损坏。

此外，普遍认为，在包括形成在光盘基板上的多个记录层的所 谓多层光盘中，诸如从不同于聚焦记录层的记录层泄漏的杂散光和 记录信号这样的因素影响伺服操作以及再生信号的质量。因此，根 据不同记录层的记录情况，期望的试写入控制可能被阻止。因此， 产生了难以获得精确优选条件的问题。

即，当在特定记录层的试写入区进行试写入以进行激光功率调 节时，试写入受到设于在平面方向(光盘的径向方向)上与特定记 录层的试写入区相同的位置(即，如在厚度方向上观看，两个试写 入区重叠的位置)处的另一个记录层的试写入区的影响。这是因为 另一个记录层的试写入区可能如上所述被损坏，或者已使用区域和 未使用区域可能在试写入区内同时存在，因此记录状态是不确定 的。

为解决上述问题，过去已提出一种方法，在该方法中不同记录 层的试写入区在记录层的径向方向上彼此移位，例如，如在以上列 出的第一个专利申请公开中所披露的，以及另一种方法，在该方法 中同一径向位置不用于不同记录层的试写入区的试写入。蓝光光盘 的现有的双层标准也详细说明了，设置在在光盘内周侧的读入区中 各记录层中的试写入区在记录层的径向方向上彼此移位。

发明内容

同时，已不断追求信息记录介质的记录容量的增加。例如，在 蓝光光盘的实例中，期望记录层进一步多层化，以用于提供三层结 构、四层结构等等，以达到容量的显著增加。

这里，出现了一个上述试写入区配置的问题。例如，试写入区 通常被设置在光盘内周侧的区域中，即确保作为所谓读入区等的半 径范围。此外，为了达到进一步多层化的目的，使记录层的试写入 区彼此错位在物理上是困难的，即，在各个不同的径向位置设定记 录层的试写入区以使当在光盘的厚度方向上观看时这些试写入区 不具有重叠的位置关系是困难的。这是因为，尽管考虑到激光功率 调节的执行次数以及更高调节精度的要求，希望确保特定范围的充 足区域作为试写入区，但是确保作为读入区等的半径范围是有限 的。

考虑到以上情况，希望在本发明中提供一种区域配置方法，该 区域配置方法能够在包括三个以上记录层的多层光学记录介质中 消除由于在不同于聚焦记录层的记录层的试写入区中进行的记录 条件优选处理而导致的夹层干扰的不利影响，并且还能够在每个记 录层中确保充足的试写入区。

根据本发明的一个实施方式的多层光学记录介质包括在厚度 方向上形成的三个以上的记录层。设置在各个记录层中的用于调节 记录激光功率的多个试写入区形成为在相邻的记录层中不在平面 方向上的位置处重叠。此外，试写入区形成为在其中一个记录层以 及不与这一个记录层相邻的至少另一个记录层中在平面方向上的 位置处具有重叠部分。

此外，在记录层的偶数层或者奇数层内，试写入区可以形成为 在平面方向上的位置处具有重叠部分。