[发明专利]一种电子产品的检测方法及装置无效

专利信息
申请号: 200910151080.X 申请日: 2009-07-09
公开(公告)号: CN101944389A 公开(公告)日: 2011-01-12
发明(设计)人: 万红波 申请(专利权)人: 深圳市朗科科技股份有限公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人: 彭愿洁;李文红
地址: 518057 广东省深圳市高*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子产品 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种电子产品的检测方法,其特征在于,包括:

从存储介质中获取坏块信息;

判断所述存储介质中所述坏块信息所标识的块是否为坏块;

当所述存储介质中所述坏块信息所标识的块不是坏块时,控制应用所述存储介质的产品处于异常状态。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,该方法还包括:

当所获取的所有坏块信息所标识的块都是坏块时,确定应用所述存储介质的产品是正品。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

判断所述存储介质中所述坏块信息所标识的块是否为坏块具体为:

判断所述存储介质中所述坏块信息所标识的块中是否有坏块标记。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于

判断所述存储介质中所述坏块信息所标识的块是否为坏块具体为:

向所述存储介质中所述坏块信息所标识的块写入数据,从所述块中读出数据,比较所写入的数据和所读出的数据是否相同,根据比较结果确定所述块是否为坏块。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法,其特征在于,

所述存储介质为闪存flash或者相变存储器PCM。

6.一种电子产品检测装置,其特征在于,包括:

获取单元,用于从存储介质中获取坏块信息;

判断单元,用于判断所述存储介质中所述坏块信息所标识的块是否为坏块;

确定单元,用于当所述存储介质中所述坏块信息所标识的块不是坏块时,控制应用所述存储介质的产品处于异常状态。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,

所述确定单元,还用于当所获取的所有坏块信息所标识的块都是坏块时,确定应用所述存储介质的产品是正品。

8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,

所述判断单元,用于判断所述存储介质中所述坏块信息所标识的块中是否有坏块标记。

9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,

所述判断单元包括:

写单元,用于向所述存储介质中所述坏块信息所标识的块写入数据;

读单元,用于从所述存储介质中所述坏块信息所标识的块中读出数据;

比较单元,用于比较所写入的数据和所读出的数据是否相同,根据比较结果确定所述块是否为坏块。

10.根据权利要求6至9任一项所述的装置,其特征在于,

所述存储介质为闪存flash或者相变存储器PCM。

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