[发明专利]测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置，且尤其涉及一种用于电性测试的测试装置。

背景技术

图1为现有一种测试装置的示意图。请参照图1，现有测试装置100包括基板110以及探针板120，其中探针板120是通过枢轴130而枢接于基板110。探针板120可掀起或盖上，图1为探针板120处于盖上的状态。此外，基板110具有用以承载液晶显示面板50的承载部112。探针板120具有用以测试液晶显示面板50的探针122，以及暴露出液晶显示面板50的开口124。

现有测试装置100的测试方法是先掀起探针板120，以将液晶显示面板50放置于承载部112。之后，再盖上探针板120，以使探针板120的探针122接触液晶显示面板50的测试线路52，进而对液晶显示面板50进行电性测试。此外，除了对液晶显示面板50进行电性测试外，测试人员也会对液晶显示面板50进行目视检测。

然而，现有技术是用转动探针板120的方式将探针板120盖上，以使探针122接触测试线路52。由于此方式容易导致探针122刮到测试线路52，所以测试线路52容易受损，并因此而影响测试结果。而且，由于探针122较长，所以此方式容易导致探针122被折断。此外，有些探针122虽未被折断，但却会被折弯而与相邻的探针122接触，如此将产生短路的现象，导致用于测试的电路板损坏。

另外，虽然探针板120的开口124可供测试人员对液晶显示面板50进行目视检测，但在某些检测角度下，探针板120会挡住测试人员的视线，导致液晶显示面板50的部分缺陷不易被检测出。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种测试装置，以避免探针及待测物在测试时受损。

为实现上述目的，本发明提出一种测试装置，其包括承载板、移动基座、探针板、至少一弹性件、盖板以及推动件。承载板具有至少一定位孔，移动基座配置于承载板的承载面上，且移动基座适于移动于原始位置与测试位置之间。探针板具有固定于移动基座的第一部分以及从第一部分延伸至移动基座外的第二部分。第一部分具有朝下方延伸并穿过移动基座的至少一定位销，而第二部分具有朝下方延伸的至少一探针。弹性件抵靠于探针板的第一部分与移动基座之间，而盖板固定于移动基座上，且位于探针板的第一部分上方。推动件可移动地配置于探针板的第一部分与盖板之间。推动件具有至少一抵靠部，而此抵靠部适于抵靠于探针板的至少一抵靠壁。推动件适于通过抵靠部推动探针板，以将移动基座推动至测试位置。当推动件受推力推动而将移动基座推动至测试位置后，定位销伸入定位孔中，而继续施加的推力更推使推动件的抵靠部沿探针板的抵靠壁移动至抵靠壁上方，以将探针板下压一段距离。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置更包括施力件，其可移动地配置于盖板上。盖板具有滑槽，而施力件具有穿过滑槽并连接至推动件的连接部。当移动基座位于原始位置时，施力件的连接部位于滑槽的第一端，而当移动基座位于测试位置且探针板被推动件下压时，施力件的连接部位于滑槽的第二端，且第一端与第二端相对。

在本发明的一实施例中，上述的移动基座具有至少一固定销，其穿过探针板的第一部分，而盖板固定于固定销。

在本发明的一实施例中，上述的弹性件包括至少一弹簧，其套设于固定销及定位销两者至少其中之一。

在本发明的一实施例中，上述的移动基座还具有至少一支撑柱，其位于探针板的第一部分旁，而盖板更承靠于支撑柱。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括二导轨件，其配置于承载板上，且位于移动基座的相对两侧，而移动基座适于沿导轨件的导轨移动。

在本发明的一实施例中，上述的移动基座具有向上延伸的侧壁，且当移动基座位于测试位置时，移动基座的侧壁抵靠于导轨件。

在本发明的一实施例中，上述的承载板的承载面设有二第一磁铁，而移动基座的底面设有第二磁铁。移动基座的底面与承载板的承载面相对，而第一磁铁的磁性与第二磁铁的磁性相反。当移动基座位于原始位置时，第二磁铁与第一磁铁其中之一相吸。当移动基座位于测试位置时，第二磁铁与第一磁铁其中另一相吸。

在本发明的一实施例中，上述的探针板的抵靠壁是第一部分的背对第二部分的侧壁，而推动件的抵靠部是朝下方延伸至探针板的抵靠壁旁。

在本发明的一实施例中，上述的探针板的第一部分与第二部分的连接处具有凸出部，而探针板的抵靠壁是凸出部的面对推动件的侧壁，而推动件的邻近凸出部的一端为推动件的抵靠部。