[发明专利]一种低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面制作工艺有效
申请号: | 200910152753.3 | 申请日: | 2009-09-28 |
公开(公告)号: | CN101661972A | 公开(公告)日: | 2010-03-03 |
发明(设计)人: | 汪雷;肖俊峰;杨德仁 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人: | 韩介梅 |
地址: | 310027*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 表面 反射率 单晶硅 太阳电池 制作 工艺 | ||
技术领域
本发明涉及薄片单晶硅太阳电池绒面制作工艺,特别是低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面制作工艺,属于太阳能应用领域。
背景技术
目前,晶体硅仍然是最主要的太阳电池材料,市场份额在90%左右。电池生产成本的50%以上来自于硅材料。太阳电池用单晶硅片的厚度已经在200μm左右,并正在向150μm甚至更薄的方向发展。硅片变薄后对光的吸收特别是长波吸收会有所减弱,激发的光生载流子会变少,使得太阳电池的光电转换效率降低。而现有的常规制绒工艺为碱反应形成金字塔绒面结构,在可见光波段平均反射率一般在10%以上,光的反射损失比较大,制约着太阳电池效率的进一步提高。
发明内容
本发明的目的是为了降低硅片表面对光的反射,以增加光吸收来提高太阳电池的转换效率,而提出一种低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面制作工艺。
本发明的低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面制作工艺,包括以下步骤:
1)将硅片投入20~30wt%KOH溶液中清洗,去除硅片表面损伤;
2)将清洗后的硅片放入KOH和异丙醇的混合溶液中,其中KOH的质量浓度为1~3%,异丙醇的体积浓度为5~8%,于80℃条件下反应30~60min,在硅片表面形成大小均匀的金字塔结构;
3)将步骤2)的具有金字塔结构的硅片放入装有腐蚀液的聚四氟乙烯釜中,密封,在10~60℃下,反应15min~60min,腐蚀液为5mol/L~15mol/L HF和0.1mol/L~0.4mol/L Fe(NO3)3的混合液,在金字塔表面形成多孔硅,得到低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面。
本发明制作工艺处理过程简单,腐蚀液价格便宜,可以与现有工业生产工艺兼容,处理后硅片的表面反射率低,表面反射率可小于5%。
附图说明
图1是硅片表面具有金字塔结构的SEM图;
图2是本发明的单晶硅太阳电池绒面的SEM图;
图3是图2单晶硅太阳电池绒面的反射光谱图。
具体实施方式
实施例1
1)将厚度为180±5μm,大小为20mm×20mm的硅片投入20wt%KOH溶液中,在80℃条件下反应2min,去除硅片表面损伤;
2)将清洗后的硅片放入KOH和异丙醇的混合溶液中,其中KOH的浓度为3wt%,异丙醇的浓度为8vol%,于80℃条件下反应60min,在硅片表面形成大小均匀的金字塔结构(见图1);
3)将步骤2)的具有金字塔结构的硅片放入装有腐蚀液的聚四氟乙烯釜中,密封,在50℃下,反应30min,腐蚀液为10mol/L HF+0.2mol/L Fe(NO3)3的混合液,在金字塔表面形成多孔硅,见图2,金字塔结构表面的多孔状结构有利于入射光的进一步吸收,本例制得的低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面,在400nm~800nm可见光范围内其平均反射率为4.2%(见图3)。
实施例2
1)将厚度为180±5μm,大小为20mm×20mm的硅片投入20wt%KOH溶液中,在80℃条件下反应2min,去除硅片表面损伤;
2)将清洗后的硅片放入KOH和异丙醇的混合溶液中,其中KOH的浓度为3wt%,异丙醇的浓度为8vol%,于80℃条件下反应60min,在硅片表面形成大小均匀的金字塔结构;
3)将步骤2)的具有金字塔结构的硅片放入装有腐蚀液的聚四氟乙烯釜中,密封,在10℃下,反应60min,腐蚀液为5mol/L HF+0.4mol/L Fe(NO3)3的混合液,在金字塔表面形成多孔硅,得到低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面,在400nm~800nm可见光范围内其平均反射率为8.2%。
实施例3
所用原生硅片(180±5μm)大小为20mm×20mm,先用20wt%KOH溶液去除硅片表面损伤,在80℃条件下反应2min;然后在3wt%KOH+8vol%异丙醇溶液中于80℃条件下反应60min,然后在15mol/L HF+0.1mol/L Fe(NO3)3溶液中反应时间为10min时,在可见光范围内(400nm~800nm)得到的平均反射率为6.9%。
1)将厚度为180±5μm,大小为20mm×20mm的硅片投入20wt%KOH溶液中,在80℃条件下反应2min,去除硅片表面损伤;
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