[发明专利]一种VCM磁钢的视觉检测方法无效

专利信息
申请号: 200910153687.1 申请日: 2009-10-26
公开(公告)号: CN101696876A 公开(公告)日: 2010-04-21
发明(设计)人: 张舜德;李延芳;姚晋丽;李燕 申请(专利权)人: 宁波大红鹰学院
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G06T7/00
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司 33102 代理人: 徐雪波
地址: 31517*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 vcm 磁钢 视觉 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种VCM磁钢的视觉检测方法,其特征在于:包括以下步骤

步骤一、预先保存所有类型VCM磁钢片的标准轮廓曲线;

步骤二、采集待测VCM磁钢片的图像信息;

步骤三、将步骤二中采集到的待测VCM磁钢片的图像信息进行除噪预处理;

步骤四、提取经过步骤三预处理后图像信息的反应轮廓边缘位置的二值图像数据;

步骤五、在步骤四得到的二值图像数据的基础上,采用8-连通法提取一组有用的反应待测VCM磁钢片轮廓边缘的特征点,并排列成有序的第一点集P1=[P0……Pn];

步骤六、根据步骤五得到的第一点集中,计算采集到的待测VCM磁钢片轮廓边缘任意两点间的直线距离,找出轮廓线上距离最远的两点Pi(xi,yi)和Pj(xj,yj),即为轮廓最小包围盒的长轴,其中0≤i≤n,0≤j≤n;然后以PiPj两点为横轴进行坐标变换,将轮廓曲线摆正,然后用水平线从上下两个方向进行扫描,水平扫描线与轮廓曲线首次出现交点的纵坐标之差为轮廓最小包围盒的短轴长度;然后根据计算出轮廓最小包围盒的长轴和短轴,与步骤一中预先保存的所有类型VCM磁钢片的标准轮廓曲线进行比对,初步判断待测VCM磁钢片是属于哪种类型的VCM磁钢片,如果计算出的轮廓最小包围盒的长轴和短轴明显偏离所有类型VCM磁钢片的标准轮廓曲线的长轴和短轴,则判断该待测VCM磁钢片为不合格品。

2.根据权利要求1所述的VCM磁钢的视觉检测方法,其特征在于:在所述步骤六后还包括以下步骤:

步骤七、在第一点集P1中提取有用的特征点、剔除伪特征点,从而形成第二点集P2,该二点集P2为第一点集P1的子集,在判断第一点集P1中某一特征点Pi是否为有用特征点时,其中0≤i≤n,找出Pi点的一个左支撑区域Li或一个右支撑区域Ri,其中左支撑区域Li中的数据点是沿着Pi点逆时针方向排列的r个数据点,Li={Pj|Pj=(xj,yj),j=i-r,...i-1},右支撑区域Ri中的数据点是沿着Pi点顺时针方向排列的r个数据点,Ri={Pk|Pk=(xk,yk),k=i+1,...i+r},首先计算由{Pi,Pi+1}或{Pi,Pi-1}两个点组成的协方差矩阵的最小特征值λ1,再计算由{Pi,Pi+1,Pi+2}或{Pi,Pi-1,Pi-2}三个点组成的协方差矩阵的最小特征值λ2,再计算由{Pi,Pi+1,Pi+2,Pi+3}或{Pi,Pi-1,Pi-2,Pi-3}四个点组成的协方差矩阵的最小特征值λ3,然后将右支撑区域Ri或左支撑区域Li中的数据点逐个加入,分别计算组成的协方差矩阵的最小特征值λ4...λr,如果λ1<λ2<...<λr,则认为特征点Pi为有用特征点,否则认为Pi为伪特征点;

步骤八、利用最小二乘法将由有用特征点组成的第二点集P2中的二值边缘轮廓数据拟合成待测VCM磁钢片的轮廓曲线;

步骤九、将步骤八拟合成的待测VCM磁钢片轮廓曲线与步骤六判断出该待测VCM磁钢片所属类型的VCM磁钢片的标准曲线进行比对,如果拟合成的待测VCM磁钢片轮廓曲线与步骤六判断出该待测VCM磁钢片所属类型的VCM磁钢片的标准曲线之间的偏差小于等于2%,则判断该待测VCM磁钢片为合格品,否则即为不合格品。

3.根据权利要求2所述的VCM磁钢片的视觉检测方法,其特征在于:所述步骤七中r值取2~10。

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