[发明专利]激光光电分析天平

权利要求书

1.激光光电分析天平，其特征是：在基座(9)的一个水平面上贴有一片上表面镀有银镜的石英玻璃条作为反射镜(7)；在反射镜(7)的上方平行设置另一片下表面镀有银镜的石英玻璃条---上玻璃条(2)，两片玻璃条之间具有一定间隔，上玻璃条(2)作为形变元件，一端固定在基座(9)上，另一端悬挂有秤盘(6)；基座(9)上装有激光发射器(1)，以一固定倾角向形变元件上玻璃条(2)的下表面发射激光束(3)，激光束(3)在两个镜面之间多次反射，在激光束多次反射后的落点处装有光点位置传感器(8)；光点位置传感器(8)是在条状陶瓷基片上(801)均匀涂有硫化镉光敏材料层(802)，光敏材料层(802)的上面制有两条线性电阻的电阻片(803)，电阻片(803)纵向左右分布，中间留有一均匀的透光缝隙，电阻片与光敏材料层的电阻率之比大于100倍以上，每条电阻片的同一端端头引出；激光光点投射在上述透光缝隙上，光点位置传感器(8)的两个引脚作为一个变量电阻连接在一个电桥中，电桥的两个输出端(A、B)连接到现有电子天平中的测量放大电路的输入接口上。