[发明专利]透明导电膜及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200910154979.7 申请日: 2009-12-07
公开(公告)号: CN101714416A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 叶志镇;龚丽;吕建国 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01B5/14 分类号: H01B5/14;H01B13/00;B32B9/04;C23C14/35;C23C14/06
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 韩介梅
地址: 310027*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 透明 导电 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.透明导电膜,其特征是在衬底(1)上依次沉积有起缓冲作用的ZnO膜层(2)、和ZnMgO膜层(3),衬底是有机聚合物,起缓冲作用的ZnO膜层是未掺杂的n型ZnO薄膜,ZnMgO膜层是掺Ga的n型ZnMgO薄膜。

2.根据权利要求1所述的透明导电膜,其特征在于有机聚合物是聚对苯二甲酸乙二酯、聚碳酸酩、有机玻璃或聚萘二甲酸乙二醇酯。

3.制备权利要求1所述的透明导电膜的方法,其特征在于包括以下步骤:

1)称量纯的ZnO粉末,球磨后压制成型,然后在1200℃温度下烧结,制得纯的ZnO陶瓷靶;

2)称量纯的ZnO、MgO和Ga2O3粉末,其中Ga摩尔百分含量为4%,Mg摩尔百分含量为5%,将上述粉末球磨混合均匀、压制成型,然后在1200℃温度下烧结,制得掺Ga的ZnMgO陶瓷靶;

3)采用射频磁控溅射法,以纯的ZnO陶瓷靶为靶材,在有机聚合物衬底上沉积一层未掺杂的n型ZnO薄膜,溅射条件:靶材与衬底之间的距离保持为4~6cm,生长室真空度至少抽至3×10-3Pa,生长室通入纯氩气和纯氧气中的一种或者这两种的混合气体,控制压强为0.1~3.0Pa,Ar∶O2=1∶0~0∶1,溅射功率100W~300W;

4)采用射频磁控溅射法,以掺Ga的ZnMgO陶瓷靶为靶材,在步骤3)的未掺杂的n型ZnO薄膜上再沉积一层Ga掺杂的n型ZnMgO薄膜,溅射条件:靶材与衬底之间的距离保持为4~6cm,生长室真空度至少抽至3×10-3Pa,生长室通入纯氩气和纯氧气中的一种或者这两种的混合气体,控制压强为0.1~3.0Pa,Ar∶O2=1∶0~0∶1,溅射功率100W~300W。

4.根据权利要求3所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于纯氩气的纯度为99.99%以上,纯氧气的纯度为99.99%以上。

5.根据权利要求3所述的透明导电膜的制备方法,其特征在于ZnO、Ga2O3和MgO粉末的纯度均为99.99%以上。

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