[发明专利]内径测量器

说明书

技术领域

本发明涉及一种内径测量器。

背景技术

作为测量被测量物的内径的装置，公知有被称作孔径测量 器的内径测量器。该内径测量器包括主体、具有与该主体螺纹 配合的螺纹部且沿轴向进退的测杆、设置于主体且沿与测杆的 轴向大致正交的方向进退的多个测量触头、和设置在这些测量 触头与测杆之间且随着测杆的轴向的进退使测量触头沿与测杆 的轴向大致正交的方向进退的圆锥构件(例如，参照文献1： 日本实开昭60-41811号公报)。

以往，在该内径测量器中，设置于测杆的螺纹部的导程为 0.5mm，而且为了使测量触头的移动量与测杆的进退量相等， 圆锥构件的圆锥角α通常为大致53度。即，(一个测量触头的移 动量)＝(测杆的进退量)×tan(α×1/2)，由于tan(53× 1/2)≈0.5，因此，通过使圆锥角α为大致53度，测量触头的 移动量(多个测量触头中的两个测量触头的移动量的合计)与 测杆的进退量相等。

但是，在这样的内径测量器中，由于测杆的螺纹部的导程 为0.5mm，因此，测量者在测量很多的大小各异的被测量物时， 为了使测量触头进退而需要使测杆的螺纹部旋转许多圈，存在 操作性及作业效率较差这样的问题。

为了解决这些问题，增大圆锥构件的圆锥角即可，例如在 使圆锥角为90度的情况下，即使测杆转动与以往相同的旋转圈 数，也能够使测量触头进退以往的大致2倍的量。

但是，由于随着圆锥角变陡峭而测量触头在圆锥构件的圆 锥面上滑动时对滑动面施加的负荷增大，测量触头在圆锥构件 上滑动的部分产生的摩擦力大于以往，因此，有可能导致测量 触头及圆锥构件的耐久性降低。另外，以往测杆的移动量与传 递到测量触头的移动量为相同的比率，但若圆锥构件的圆锥角 变大，则测杆的移动量被传递到测量触头时会放大。即，由于 以测杆较少的移动量使测量触头移动较大，因此，存在测量精 度恶化这样的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种提高测量被测量物时的操 作性、作业效率及测量精度、并能够使在测量触头与圆锥构件 之间产生的摩擦力为最小限度来提高耐久性的内径测量器。

本发明内径测量器的特征在于，包括主体、具有与该主体 螺纹配合的螺纹部且沿轴向进退的测杆、设置于上述主体上且 沿与上述测杆的轴向大致正交的方向进退的多个测量触头、和 设置在这些测量触头与上述测杆之间且随着上述测杆的轴向的 进退使上述测量触头沿与上述测杆的轴向大致正交的方向进退 的圆锥构件，上述测杆的螺纹部的导程形成为1.0mm以上，而 且上述圆锥构件的圆锥角形成为小于53度。

采用该构造，由于沿轴向进退的测杆的螺纹部的导程为 1.0mm以上，因此，与以往相比，测杆每旋转1圈时测杆沿轴 向的进给量增多，测量被测量物时不必使螺纹部旋转量太多， 能够提高作业效率及操作性。

另外，由于圆锥构件的圆锥角小于53度，与圆锥角为90度 时相比，测量触头在与测量触头的轴向大致正交的方向上的移 动量小于测量触头的移动量，因此，能够减小测量误差。并且， 由于测量触头与圆锥构件的圆锥面接触地移动的距离变大，圆 锥构件与测量触头滑动时产生的每单位移动量的摩擦力变小， 因此，能够提高耐久性。

本发明的内径测量器优选上述测量触头的螺纹部的导程形 成为2.0mm，而且上述圆锥构件的圆锥角为大致28度。

这里所说的大致28度是指满足tan(圆锥角×1/2)＝0.25 的值(大约28.0724869…度)。

在以往的导程为0.5mm、圆锥角为53度的结构中，为了使 测量触头沿与测杆的轴向大致正交的方向移动1.0mm，需要使 测杆旋转2圈。相对于此，在本发明的结构中，由于导程为 2.0mm、圆锥角为28度，测杆随着1圈的旋转而进退2.0mm， 随之一个测量触头移动2.0×tan(28×1/2)≈0.5mm。为了 考虑到两个测量触头成对地动作而使测量触头移动1.0mm，测 杆仅旋转1圈即可。因而，能够使测杆以比以往更少的旋转圈 数使测量触头移动1.0mm，从而能够提高作业效率及操作性。 另外，采用本发明的结构，与以往相比，测量触头与圆锥构件 的圆锥面接触地移动的距离变大，圆锥构件与测量触头滑动时 产生的每单位移动量的摩擦力变小，因此，能够提高耐久性。

附图说明

图1是本发明的一实施方式的孔径测量器的分解立体图。