[发明专利]管线式元件测试系统及其方法无效

专利信息
申请号: 200910160865.3 申请日: 2009-07-29
公开(公告)号: CN101988947A 公开(公告)日: 2011-03-23
发明(设计)人: 骆文彬;蔡定一;施云严 申请(专利权)人: 宝定科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 管线 元件 测试 系统 及其 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测试系统及其方法,特别是涉及一种错开装载或卸除元件于两测试设备的时间,使两测试设备以管线形式执行元件测试作业的管线式元件测试系统及其方法。

背景技术

先前技术中,厂商在制造受测元件后,对每一受测元件进行一测试作业。

请参照图1,其为先前技术的元件测试系统的方框示意图,其是由一仪器驱动模块11、一测试主机12、一功率计(Power Meter;PM)15与一信号收发器16。其中,测试主机12连接仪器驱动模块11,并透过耦合器14接连功率计15与信号收发器16。功率计15用以侦测受测元件13发出的信号(如Radio Frequency Signal,射频信号)的信号强度与信号传送的资料稳定性。

在此说明,信号收发器16指一个具有标准的信号收发、调制、解调能力的标准样本元件,用以根据接收信号,并根据信号收发器16是否能正确、完整、调制或解调受测元件13发出的无线信号,测试受测元件13输出的信号的可调制性与受测元件13的传输效能,并将信号接收结果提供给测试主机12,供测试主机12判断受测元件13是否正常运行。

先前技术的系统中,先以人工、或机械手臂夹持受测元件13以装载于测试主机12的一载具,如受测元件13为一受测芯片(或称为晶片)时,载具为配置有芯片插槽(Socket)的测试电路板;亦或,受测元件13为一受测网路卡时,载具为配置有卡片插槽(Slot)。耦合器14先被切换以连通测试主机12与功率计15,测试主机12从仪器驱动模块11取得一驱动程序以设定受测元件13,再控制受测元件13发出一受测信号至功率计15。

功率计15分析受测信号的信号强度以回传一信号强度资料至仪器驱动模块11,仪器驱动模块11修正提供的驱动程序的工作参数以形成一修正程序,再提供给测试主机12来重新设定受测元件13的工作参数。

耦合器14再被切换以连通测试主机12与信号收发器16,测试主机12控制受测元件13发出一测试资料。信号收发器16接收此测试资料,并将测试资料的接收结果回传给测试主机12。测试主机12根据取得的接收结果以判断受测元件13是否正常运作。

就上述得知,先前技术中,一套测试系统同一时间仅能测试一个受测元件。厂商为短时间增加产能,多会增设相同的测试系统,以一次性测试多个受测元件。然而,厂商每购置一套测试系统,仅是多增设一条受测元件的元件测试线,所制造出的受测元件的结构与受测元件进行的测试流程皆相同,即受测元件测试效率提升了,厂商所付出的测试成本也相对提升。因此,如何有效的降低生产成本,与提升受测元件的产能,为厂商应思考的问题。

由此可见,上述现有的测试系统在产品结构、测试方法与使用上,显然仍存在有不便与缺陷,而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题,相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道,但长久以来一直未见适用的设计被发展完成,而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题,此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的管线式元件测试系统及其方法,实属当前重要研发课题之一,亦成为当前业界极需改进的目标。

发明内容

本发明的目的在于,克服现有的元件测试系统存在的缺陷,而提供一种新的管线式元件测试系统及其方法,所要解决的技术问题是使其可降低设备成本,并保持一定受测元件测试效率。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种管线式元件测试系统,其包含:一第一测试设备,用以进行一第一测试,并于该第一测试完成时输出一第一触发信号;一第二测试设备,用以进行一第二测试;一装卸模块;以及一仪器驱动模块,是控制该装卸模块装载一第一元件于该第一测试设备,以对该第一元件进行该第一测试,及该仪器驱动模块取得该第一触发信号时,控制该装卸模块将该第一元件从该第一测试设备卸除以装载于该第二测试设备,以对该第一元件进行该第二测试,且装载一第二元件于该第一测试设备以对该第二元件进行该第一测试。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的管线式元件测试系统,其中当该第二测试设备对该第一元件执行该第二测试时,该第一测试设备对该第二元件执行该第一测试,以达成平行执行。

前述的管线式元件测试系统,其中所述的第二测试设备完成对该第一元件的该第二测试时,是发出一第二触发信号,该仪器驱动模块是控制该装卸模块从该第二测试设备卸除该第一元件。

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