[发明专利]测量各向异性物质的物理参数的装置及方法

权利要求书

1.一种测量各向异性物质的物理量的方法，包含下列步骤：

提供各向异性的物质；

将两道偏振状态相互正交且频率不同的光束通过所述物质，所述两光束通过所述物质后会导致不同的相位延迟量；

利用光检测器将所述两光束通过所述物质后的信号转换为电的干涉信号；及

将所述干涉信号与参考信号比较，以得到两者的相位差。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述两光束的频率的差等于所述参考信号的频率。

3.如权利要求1所述的方法，其中所述干涉信号的产生是将所述两光束通过线性偏光的检偏片来达成。

4.如权利要求1所述的方法，其中所述干涉信号与所述参考信号的比较藉由相位计或锁相放大器来达成。

5.如权利要求1所述的方法，其中所述两光束藉由偏振的光束通过电光调制器来产生。

6.如权利要求1所述的方法，还包含：

旋转所述物质；及

在所述物质在不同的旋转角度下，将所述干涉信号与所述参考信号比较。

7.如权利要求1所述的方法，其中所述参考信号由信号产生器所产生。

8.如权利要求1所述的方法，其中所述物质可为扭转向列液晶盒、OCB液晶盒或TAC膜。

9.如权利要求8所述的方法，其中所要测量的所述扭转向列液晶盒的物理参数为扭转角、预倾角与液晶盒厚度。

10.一种测量各向异性物质的物理参数的装置，其包含：

光源，用以产生光束；

电光调制器，用以将所述光源所产生的光束转换为两道偏振状态相互正交且频率不同的光束，以入射至待测的各向异性的物质；

线性偏光的检偏片，用以使所述两光束在通过所述物质后产生干涉；

光检测器，将所述干涉光束转换为电的干涉信号；

信号产生器，产生参考信号；及

相位计或锁相放大器，用以比较所述干涉信号与所述参考信号，以得到两者的相位差。

11.如权利要求10所述的装置，其中所述两光束的频率的差等于所述参考信号的频率。

12.如权利要求10所述的装置，还包含：

驱动器，用以驱动所述电光调制器，

其中所述信号产生器与所述驱动器连接。

13.如权利要求10所述的装置，还包含：

线性偏光的起偏片，设置于所述激光器与电光调制器之间。

14.如权利要求10所述的装置，还包含：

旋转平台，用以旋转所述物质。

15.如权利要求10所述的装置，其中所述物质可为扭转向列液晶盒、OCB液晶盒或TAC膜。

16.一种测量各向异性物质的物理参数的装置，其包含：

二极管激光器，用以产生激光束；

激光器二极管稳压器，与所述二极管激光器电连接；

电光调制器，用以将所述光源所产生的光束转换为两道偏振状态相互正交且频率不同的光束，以入射至待测的各向异性的物质；

线性偏光的检偏片，用以使所述两光束在通过所述物质后产生干涉；

光检测器，将所述干涉光束转换为电的干涉信号；

信号产生器，产生参考信号；及

相位计或锁相放大器，用以比较所述干涉信号与所述参考信号，以得到两者的相位差。

17.如权利要求16所述的装置，还包含：

准直透镜，将所述二极管激光器所产生的光束聚为平行光；及

可调光圈，设于准直透镜的下游。

18.如权利要求16所述的装置，其中所述两光束的频率的差等于所述参考信号的频率。

19.如权利要求16所述的装置，还包含：

驱动器，用以驱动所述电光调制器，

其中所述信号产生器与所述驱动器连接。

20.如权利要求16所述的装置，还包含：

半波片，设置于所述激光器与电光调制器之间。

21.如权利要求16所述的装置，还包含：

旋转平台，用以旋转所述物质。

22.如权利要求16所述的装置，其中所述物质可为扭转向列液晶盒、OCB液晶盒或TAC膜。