[发明专利]滚动码产生系统与产生方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于集成电路元件测试的滚动码产生系统与产生方法，特别是有关于一种可以直接在测试机(tester)中的载体随机存取内存(vector ram)上直接进行操作的滚动码产生系统与产生方法。

背景技术

现有行技术中，在整片晶片中的集成电路元件上的编号都为同一编码，因此在后段工艺中，若有任一单一集成电路元件有异常时，只能查询到它是属于哪一片晶片，但不知道此异常的集成电路元件现有作过何种测试，测试结果或信息为何，亦不清楚是从哪一家测试厂商进行测试、制作或包装等问题。

此外，前述的在集成电路元件上编码的操作方式也有许多缺点，一般来说要将所有需要写入集成电路元件上的模板(pattern)，一次都准备好，并下载至测试机的载体随机存取内存中，因为载体随机存取内存主要是放置测试集成电路元件数据之处，之后在进行测试时，需依据不同种类的测试方式来选择不同的模板并执行写入的动作。虽然此作法可以达到写入编码的目的，但因为早期欲写入的编码数据少，且需要写入的编码数据是很固定的，因此不需要占用大量、昂贵的载体随机存取内存的资源。但若是欲写入的编码数据多，则测试机的载体随机存取内存无法提供足够的空间供写入。又若是遇到复杂需要计算的模板，例如：要写入的编码数据是测试完成后的信息，则此测试完成后的信息为不固定数据且需要再经过计算，则此种情况，将因无法事先可以备妥固定的模板，而无法进行写入编码的操作。

发明内容

为了解决上述现有技术不尽理想之处，本发明提供一种滚动码产生系统，包含一载体随机存取内存、数据下载模块、第一运算模块、修正模块、执行模块、确认模块、纪录检索模块、第二运算模块及验证模块。通过上述滚动码产生系统，可产生一滚动码，且进一步可将上述的滚动码写入测试中的集成电路元件中。

一种滚动码产生系统，用于集成电路元件测试的测试机中，以产生一滚动码，且将该滚动码写入测试中的一集成电路元件中，其中，该滚动码产生系统包括：

一载体随机存取内存；

一数据下载模块，用以读取一测试模板、一比较模板以及一写入数据，

并将该测试模板与该比较模板下载至该载体随机存取内存中，其中该

测试模板包含一空白区，以供写入一滚动码；

一第一运算模块，将该写入数据进行运算而得到一滚动码；

一修正模块，将该滚动码写入至该测试模板的空白区，藉以形成一修正模板；

一执行模块，将该修正模板写入至测试中的集成电路元件，并自该集成电路元件内的修正模板输出至该载体随机存取内存内，以形成一写入范本；

一确认模块，自该集成电路元件的修正模板中取得该滚动码；

一纪录检索模块，检索该写入模板与该比较模板二者比较的差异，以产生的一修正纪录；

一第二运算模块，将该修正纪录进行反运算，以获得一反运算滚动码；以及

一验证模块，将该确认模块取得的滚动码及反运算滚动码的内容进行验证比对，以确认该滚动码为正确。

因此，本发明的主要目的在于提供一种滚动码产生系统，可同时对多个集成电路元件写入不相同的滚动码，因此各集成电路元件具有单一性及加密性。

本发明的次要目的在于提供一种滚动码产生系统，可同时对多个集成电路元件写入不相同的滚动码，因此具有较大的操作弹性。

本发明的另一目的在于提供一种滚动码产生系统，可写入各种复杂的滚动码程序，因此具有较大的操作弹性。

本发明的另一目的在于提供一种滚动码产生系统，通过直接将滚动码写入载体随机存取内存中，所以写入的速度快，且不会损失测试机的效能。

本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生系统，操作时不需要把所有的范本皆下载至载体随机存取内存中，因此可以减少载体随机存取内存的使用量。

本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生系统，其中具有一验证模块，可防止写入错误的滚动码。

此外，本发明进一步提供一种滚动码产生方法，包含以下步骤：

提供一载体随机存取内存；

自数据下载模块中，读取测试模板、比较模板以及写入数据；

下载上述的测试模板与比较模板至载体随机存取内存中，其中测试模板包含一空白区，以供写入滚动码；

下载上述的写入数据至第一运算模块中，进行运算后得到滚动码；

自修正模块将上述的滚动码写入至测试模板的空白区，以形成一修正模板；

将修正模板写入至测试中的集成电路元件上；

自集成电路元件内的修正模板输出至载体随机存取内存内，以形成一写入范本；