[发明专利]发光二极管装置及其制造方法有效
申请号: | 200910163586.2 | 申请日: | 2009-08-28 |
公开(公告)号: | CN101667614A | 公开(公告)日: | 2010-03-10 |
发明(设计)人: | 余振华;余佳霖;陈鼎元;邱文智;林宏远 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 姜 燕;陈 晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种发光二极管装置,包括:
一半导体基板,其具有位于一第一侧的一含碳层,其中该含碳层的碳原 子与该半导体基板的硅原子键结;
一发光二极管结构,形成于该半导体基板的该第一侧上,其中该发光二 极管结构包括一缓冲/成核层、一第一接触层、一第一包覆层、一有源层、一 第二包覆层和一第二接触层,该第一接触层和该第二接触层提供电性接触; 以及
一过渡层,介于该含碳层和该发光二极管结构之间,其中该过渡层包括 铝、钛、银、钛-铝或其组合。
2.如权利要求1所述的发光二极管装置,其中该含碳层的厚度小于20 μm。
3.如权利要求2所述的发光二极管装置,其中该半导体基板为一块状硅 基板,其具有(111)方向的一表面配向。
4.一种发光二极管装置的制造方法,包括下列步骤:
提供一基板;
于该基板的一第一侧形成一含碳层;
进行一退火工艺以活化该含碳层的碳原子,使该碳原子与该基板的硅原 子键结;
于该基板的该第一侧上方形成一发光二极管结构,其中该发光二极管结 构包括一缓冲/成核层、一第一接触层、一第一包覆层、一有源层、一第二包 覆层和一第二接触层,该第一接触层和该第二接触层提供电性接触;以及
于形成该发光二极管结构之前还包括于该含碳层上形成一过渡层,其中 该过渡层包括铝、钛、银、钛-铝或其组合。
5.如权利要求4所述的发光二极管装置的制造方法,其中形成该含碳层 的步骤包括将该碳原子注入该基板内。
6.如权利要求4所述的发光二极管装置的制造方法,其中形成该含碳层 的步骤包括将该碳原子扩散进入该基板内。
7.如权利要求4所述的发光二极管装置的制造方法,其中形成该含碳层 的步骤至少一部分以外延工艺进行。
8.如权利要求4所述的发光二极管装置的制造方法,其中形成该含碳层 的步骤包括形成厚度小于20μm的一含碳层。
9.如权利要求4所述的发光二极管装置的制造方法,其中该基板具有 (111)方向的一表面配向。
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