[发明专利]计算机设备和处理器诊断方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请是基于2008年10月3日提交的在先日本专利申请第2008-258976 号并要求享有该申请的优先权，通过援引将其全部内容结合于此。

技术领域

本发明所述的实施例涉及一种计算机设备和处理器诊断方法。

背景技术

已经进行了各种类型的诊断测试来诊断内置于计算机设备中的每个装 置的缺陷部分。例如，日本特开专利公布号H06-4413公开了一种对每个内 置存储器的存储功能是否正确地起作用(例如，是否可以正常地从存储器读 取预定数据或将预定数据写入存储器)进行诊断的存储器诊断测试。

在这种类型的计算机设备中，与每一装置对应的诊断程序被存储在内部 只读存储器(ROM)的一部分中。在操作系统(OS)被启动后，诸如中央 处理单元(CPU)之类的处理器将诊断程序加载到诸如随机存取存储器 (RAM)之类的主存储器中，并执行该诊断程序以进行各种诊断测试。

然而，在上述的传统计算机设备中，当处理器中存在异常时，就不能正 常进行诊断测试。具体而言，处理器执行多种功能，因此，如果所述多种功 能中存在不能被执行的缺陷功能(defective function)，则处理器的运行就会 变得不稳定。因此，不能正常执行诊断程序。

发明内容

根据实施例的一个方案，一种计算机设备包括第一处理器、第二处理器 和主存储器。所述计算机设备还包括存储器诊断单元、诊断程序加载单元和 缺陷功能识别单元。存储器诊断单元使所述第二处理器执行存储器诊断程序 来对所述主存储器进行诊断，并识别所述主存储器中的缺陷区。诊断程序加 载单元将用来对所述第一处理器的多种功能进行诊断的处理器诊断程序加 载到所述主存储器中除了由所述存储器诊断单元识别出的缺陷区以外的区 域中。缺陷功能识别单元使所述第二处理器执行由所述诊断程序加载单元加 载的处理器诊断程序，并从所述第一处理器的功能中识别被禁止的缺陷功 能。

根据实施例的另一方案，提供一种应用于计算机设备的处理器诊断方 法，该计算机设备具有第一处理器、第二处理器以及主存储器，该处理器诊 断方法包括：由存储器诊断单元使所述第二处理器执行存储器诊断程序来对 所述主存储器进行诊断，并识别所述主存储器中的缺陷区；由诊断程序加载 单元将用于对所述第一处理器的多种功能进行诊断的处理器诊断程序加载 到所述主存储器中除了由所述存储器诊断单元识别出的缺陷区之外的区域 中；以及由缺陷功能识别单元使所述第二处理器执行由所述诊断程序加载单 元加载的处理器诊断程序，并从所述第一处理器的功能中识别被禁止的缺陷 功能。

根据实施例的又一方案，一种计算机可读存储介质存储了指令，当执行 该指令时，使计算机实现上述的方法。

本发明能够可靠地识别处理器的缺陷功能，从而可以确保各种诊断测试 的正常进行。

通过尤其是在权利要求中指出的元件和组合，将实现和获得本发明的目 的和优点。

应当理解，本发明的前述概括描述和下述具体描述这两者都仅是示例性 的和说明性的，而不是用于限制权利要求所要求保护的本发明。

附图说明

图1是根据一个实施例的计算机设备的实例性功能框图；

图2是用于详细说明图1中所示的DRAM的实例性示意图；

图3是图1中所示的BIOS程序的实例性功能框图；

图4是CPU诊断程序的一个例子；

图5是用于说明CPU诊断过程(process)的实例性示意图；以及

图6是由根据该实施例的计算机设备执行的CPU诊断过程的实例性流 程图。

具体实施方式

将参考附图对本发明的示例性实施例进行说明。

首先，说明根据一个实施例的计算机设备的要点。根据该实施例的计算 机设备包括第一处理器、第二处理器以及主存储器。该计算机设备还包括存 储器诊断单元、诊断程序加载单元以及缺陷功能识别单元。存储器诊断单元 使第二处理器执行存储器诊断程序来对主存储器进行诊断，并识别主存储器 中的缺陷区。在主存储器中除缺陷区以外的区域中，诊断程序加载单元加载 用来对第一处理器的多种功能进行诊断的处理器诊断程序。缺陷功能识别单 元使第二处理器执行所加载的处理器诊断程序，并识别第一处理器的多种功 能中被禁止、即不能被执行的缺陷功能。