[发明专利]光学记录读取用拾取用光学元件

说明书

技术领域

本发明涉及存在于对光盘进行记录或再生的光学系统所使用的光路上的 光拾取透镜以及装载该光拾取透镜的光头和光盘装置。

背景技术

光盘信息的读出通过使从光盘装置的光源发出的光在光路上穿过波阻片 和准直仪等的透明部件，最终使用物镜在光盘上形成光斑，从而能够读取光盘 上的信息。近年来，光盘的记录容量持续增大，平均单位面积的记录容量也持 续增大，而开发出蓝光光盘(BD)。蓝光光盘(BD)的记录容量，虽然为与 DVD相同的12cm盘，但具有DVD盘容量4.7GB的5倍23GB容量。BD光 盘与DVD光盘的不同，从光盘的结构的不同来看容易理解。拾取相对于DVD 的0.74um，BD狭小为0.32um；另外，最小凹坑长为相对于DVD的0.400um， BD缩短为0.149um。可是，为了准确地读取这种极端地狭窄短小的凹坑，又 通过写入形成，需要使用BD中的波长405nm的光，另外，所使用的光拾取 透镜也需要使用NA0.85以上的高NA的透镜。

在DVD的光拾取透镜中，在调整盘面侧的顶点和光盘面之间的距离即运 行距离时，多采取自由调整端厚度的方法。即，用各自的模具制作光拾取透镜 的面径和从其外侧到外径的端面的方法。这里所说的端厚，是指由激光的入射 面侧的透镜面从外侧到外径的部分和从盘面的透镜面外侧到外径的部分被夹 持的部分的厚度。

这种方法的优点在于，不变动与光拾取透镜的性能大大相关的中心厚度， 可通过不同的模具自如地确定端厚度。可是，这种方法也存在缺点。光拾取透 镜在调查其性能之后测定波象差。通常，这种波象差以激光入射面侧的端面为 基准，在不产生端面倾斜的状态下进行测定。作为进行测定以免出现端部的倾 斜的方法，采取如下的方法：向设置于激光入射面侧的镜面照射用于测定波象 差的激光，进行透镜倾斜调整，以使在该镜面的干涉条纹变得最小。

在通过上述方法使端面不产生倾斜的状态下进行波象差测定，基于取得的 波象差测定结果，进行光拾取透镜的安装。具体而言，确认波象差成分，在适 时着眼的波象差成分较大时候，作为光拾取透镜不可使用或考虑波象差成分产 生的方向进行安装而使用。例如，在光拾取透镜的安装角度这点中，确认3 次彗形象差并确认其产生量或方向，向光头进行安装。

可是，由于成为波象差测定基准的激光入射面侧的端面为安装面，所以不 能确认光拾取透镜是否以正常的倾斜进行安装。因此，在激光入射面侧的端面 的相反侧的从光盘面侧的透镜面径到外径的端面设置镜面，而且，通过照射安 装用的激光光线，控制光拾取透镜的倾斜进行安装。可是，该方法存在很大的 缺点。即，尽管以激光入射面侧的端面为基准测定波象差，但是所谓该激光入 射面侧的端面，是以从模具完全不同的盘面侧的透镜面径到外径的端面的镜面 基准进行安装的。

如果以图1的光拾取透镜1进行说明，则激光入射面侧的光拾取透镜的透 镜面2和镜面6通过相同的模具制作。透镜面的结束处和镜面通过适度的曲线 进行连接，但镜面的开始位置4和到镜面结束位置5之前是平滑的，大致垂直 于光轴5。如前所述，通过该镜面照射用于测定波象差的激光10，进行调整透 镜倾斜，以使在该镜面的干涉条纹为最小。

在该状态进行波象差测定，虽然决定光拾取透镜可否使用，但实际上，透 镜安装面7由于用与激光入射面侧2及镜面6不同的模具制作，所以即使这样 安装在光头上，也难以说反映象差测定的结果。而且，在图1中，盘面侧的透 镜面3和盘面侧的镜面8通过不同的模具制作。该盘面侧的镜面8，如前所述， 道理上照射安装用的激光光束观察光拾取透镜的倾斜的同时，利用于向光头安 装光拾取透镜，但由于盘面侧的透镜面3和镜面8是不同的模具，所以反映了 用先前的方法测定的波象差测定的结果的安装难于直接地反映。

作为另外的例子，也考虑图2那样的光拾取透镜。将激光入射面的镜面 16作成与比激光入射面的激光面12靠外侧的光头安装面相同。这种方法，在 测定波象差时，照射用于测定波象差的激光18，在为使该镜面的干涉条纹为 最小而进行透镜倾斜调整、进行波象差测定时，一看，通过测定得到的波象差 结果和安装后的光拾取透镜的状态一致，看起来反映出测定结果。可是，在这 种方法中，留有应该将激光入射面侧的镜面16如何作成镜面的问题。