[发明专利]光信息检测方法、光拾取器及光信息记录再现装置

权利要求书

1.一种光信息检测方法，其特征在于，

将从光源出射的光束分割为第一光束和第二光束；

将上述第一光束聚光并照射至光信息记录介质上；

将从上述光信息记录介质反射的信号光引导至4个4分割光检测器；

将上述第二光束不聚光至上述光信息记录介质，而作为参照光引导至 上述4个4分割光检测器；

在上述4个4分割光检测器上，使上述信号光和上述参照光在该信号 光与参照光之间的相位关系为在第一4分割光检测器上和第二4分割光检 测器上相互差异180度、在第三4分割光检测器上和第四4分割光检测器 上相互差异180度、在上述第一4分割光检测器上和上述第三4分割光检 测器上差异90度的状态下，进行光学干涉；

运算上述第一4分割光检测器与上述第二4分割光检测器的对应区域 的差动信号的平方、和上述第三4分割光检测器与上述第四4分割光检测 器的对应区域的差动信号的平方；

进而，通过按各区域分别将上述2组差动信号的平方相加，从而获得S’ (A)、S’(B)、S’(C)、S’(D)的信号，通过计算S’(A)+S’(C)-S’ (B)-S’(D)来得到偏焦信号，其中A～D是上述4分割光检测器各自的 区域。

2.如权利要求1记载的光信息检测方法，其特征在于，

通过计算S’(A)+S’(B)-S’(C)-S’(D)，来得到跟踪误差信号。

3.如权利要求1记载的光信息检测方法，其特征在于，

将从上述各区域得到的相加信号进行总相加或对总相加的结果附加平 方根运算，来得到再现信号。

4.一种光拾取器，其特征在于，具有：

半导体激光器；

第一光学元件，将来自上述半导体激光器的光束分路为第一光束和第 二光束；

物镜，将上述第一光束聚光至光信息记录介质的记录膜面，并接受反 射光；

参照光束反射构件，设置在上述第二光束的光路中；

第一4分割光检测器；

第二4分割光检测器；

第三4分割光检测器；

第四4分割光检测器；

第二光学元件，对于由上述光信息记录介质反射的光束即信号光和由 上述参照光束反射构件反射的光束即参照光合波后的光束进行分路，并使 其入射至上述第一4分割光检测器和上述第二4分割光检测器；

第三光学元件，在相位关系与上述第二光学元件的合波相差90度的状 态下，将由上述光信息记录介质反射的上述信号光和由上述参照光束反射 构件反射的上述参照光，对合波后的光束进行分路，并使其入射至上述第 三4分割光检测器和上述第四4分割光检测器；以及

运算电路，运算上述第一、第二、第三、第四4分割光检测器的输出；

上述信号光与上述参照光之间的相位关系为：在上述第一4分割光检 测器上和上述第二4分割光检测器上相互差异180度、在上述第三4分割 光检测器上和上述第四4分割光检测器上相互差异180度、在上述第一4 分割光检测器上和上述第三4分割光检测器上差异90度；

上述运算电路运算上述第一4分割光检测器与上述第二4分割光检测 器的对应区域的差动信号的平方、和上述第三4分割光检测器与上述第四4 分割光检测器的对应区域的差动信号的平方；进而，通过按各区域分别将 上述2组差动信号的平方相加，从而获得S’(A)、S’(B)、S’(C)、S’(D) 的信号，通过计算S’(A)+S’(C)-S’(B)-S’(D)来得到偏焦信号，其 中A～D是上述4分割光检测器各自的区域。

5.如权利要求4记载的光拾取器，其特征在于，

上述运算电路通过计算S’(A)+S’(B)-S’(C)-S’(D)，来得到跟 踪误差信号。

6.如权利要求4记载的光拾取器，其特征在于，

上述运算电路将从上述各区域得到的相加信号进行总相加或对总相加 的结果附加平方根运算，来得到再现信号。