[发明专利]磁盘阵列测试方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种测试方法，且特别是有关于一种磁盘阵列测试方法。

背景技术

磁盘阵列(Redundant Array of Independent Disks；RAID)是大型的计算机系统中，不可或缺的储存装置。磁盘阵列的基本概念是结合多个小型且便宜的磁盘驱动器成为一个阵列，以达到一个大且昂贵的磁盘驱动器无法做到的效能表现或多余性的目标。这个磁盘驱动器的阵列将会以一个单一的逻辑储存单位或磁盘驱动器呈现在计算机系统1中。磁盘阵列依照不同的形式可分为RAID-0、RAID-1、RAID-1E、RAID-5、RAID-6、RAID-7、RAID-10及RAID-50等等。磁盘阵列常被用在服务器计算机上，并且常使用完全相同的硬盘作为组合。

对于磁盘阵列的测试流程中，通常针对磁盘阵列连接的硬盘数目的不同，必须撰写对应硬盘数目的测试程序代码。然而，这样的测试方式，如果在磁盘阵列测试流程该动时，必须将对应的测试程序代码全部修改，使测试流程的弹性降低许多，亦使测试流程的成本因此而上升。

因此，如何设计一个新的磁盘阵列测试方法，以适用于不同的状况，而不须耗费时间修改对应不同数目的硬盘的磁盘阵列的测试程序代码，是业界亟待解决的问题。

发明内容

因此，本发明的一目的在于提供一种磁盘阵列测试方法，以适用于不同的状况，而不须耗费时间修改对应不同数目的硬盘的磁盘阵列的测试程序代码。

为了实现上述目的，本发明提供一种磁盘阵列测试方法，用于计算机系统中的磁盘阵列，磁盘阵列包含多个硬盘。磁盘阵列测试方法包含下列步骤：读取计算机系统的缓存器的硬盘参数，其中硬盘参数与硬盘的数目相关；根据硬盘参数，设定计算机系统的系统芯片组的地址映像缓存器(Address mapregister)，以记录硬盘的数目；启始磁盘阵列的选项只读存储器(Option ROM)，其中选项只读存储器包含测试程序代码；根据地址映像缓存器记录的数目设定测试程序代码中的变量；执行测试程序代码的第一测试区块；以及根据变量判断硬盘的数目，自测试程序代码的多个第二测试区块中，选择其中之一执行。

其中，上述缓存器为系统芯片组的互补式金属氧化物半导体晶体管缓存器，系统芯片组为南桥芯片。

根据本发明的具体实施例，其中设定系统芯片组的地址映像缓存器的步骤中，是在设定地址映像缓存器的一位。

在一实施例中，上述变量储存一延伸基本输入输出系统数据区域。

在又一实施例中，上述各第二测试区块包含多个测试函数。被选择的第二测试区块所包含的测试函数，是用以测试包含对应上述数目的硬盘的磁盘阵列。

应用本发明的优点在于通过判断硬盘的数目，以于一测试程序代码选择对应的测试区块执行测试，不须随硬盘数目的不同而更换测试程序代码，而轻易地达到上述的目的。

附图说明

为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1为本发明一实施例的计算机系统的方块图；以及

图2为本发明一实施例的磁盘阵列测试方法的流程图。

【主要组件符号说明】

1：计算机系统                        10：磁盘阵列

100：硬盘                            11：硬盘参数

12：系统芯片组                       120：缓存器

122：地址映像缓存器                  14：基本输入输出系统

140：选项只读存储器                  142：测试程序代码

144：延伸基本输入输出系统数据区域    16：系统内存

201-206：步骤

具体实施方式