[发明专利]10Gbps误码分析测试仪

权利要求书

1.一种10Gbps误码分析测试仪，包括，一个联结测试模块器件，并能与PC机设置的用户交互界面软件进行通信的评估板，其特征在于，评估板上，设置有一个连接被测试设备的误码测试芯片，用于伪随机码序列的发送、接收和误码检测计数，并同时向被测试设备输出、输入检测信号；一个与该芯片相连接的时钟发生器，用于提供数据发送频率；一个用于与上位PC机和下位测试芯片进行通信的C8051系列的单片机，该单片机上设置有连接上述PC机进行通信的USB通信接口，还有连接误码测试芯片进行通信和控制的I2C两线式串行总线，误码测试芯片通过单片机向PC机提供发出的比特流量和误码总数，发出的比特流量由单片机记录的测试时间和测试芯片输出的指定频率得到。

2.按权利要求1所述的10Gbps误码分析测试仪，其特征在于：所述的误码测试芯片，包括一个独立的时钟数据恢复模块(CDR)，防抖动的时钟倍频模块(CMU)，以及数据重定时模块。

3.按权利要求1所述的10Gbps误码分析测试仪，其特征在于：所述的误码测试芯片还含有：

数据发送模块：根据提供的晶振输出制定的频率，发送作为测试系统信源比特流的伪随机码序列，以及发送数据流的切换开关；

数据接收模块：接收通信系统输出给被测设备的比特流，并恢复接收到的时钟和数据；根据接收的比特流判定是否同步，信号丢失和时钟丢失；

开关模块：供一个发送有限字节长度和无限字节长度选择的寄存器。

误码检查模块：根据测试结果，记录误码总数，并将误码值放入上述寄存器中。

4.按权利要求1所述的10Gbps误码分析测试仪，其特征在于：所述的单片机含有：

通信模块：它将PC机发送的参数，初始化，将测试芯片的测试结果返回给所述PC机；

设置模块：用于进行寄存器设置和读取测试结果；

计时模块：用于记录误码测试过程的时间和计算误码测试芯片发送数据模块总共发送的比特数；

监控误码计数器翻转模块：用于读取误码测试芯片的误码计数和寄存器的翻转状态，并监控误码计数器是否记录满，并发生翻转。

5.按权利要求1所述的10Gbps误码分析测试仪，其特征在于：所述的误码测试芯片是型号为Si5040的芯片，单片机是型号为C8051F320的单片机。

6.按权利要求1所述的10Gbps误码分析测试仪，其特征在于：PC机通过USB通信接口和测试评估板上的单片机相连，单片机经两线式串行总线I2C和Si5040相连。

7.按权利要求1所述的10Gbps误码分析测试仪，其特征在于：所述的时钟发生器是Si534、Si570或其它基于PLL技术的晶振芯片。

8.一种使用按权利要求1所述10Gbps误码分析测试仪的PC机，其特征在于：PC机提供的测试软件是用ANSIC语言开发环境设计的具有库函数，图形界面设计的LabWindows/CVI控件，且能提供交互式的编程环境和调试手段，并安装在PC机上，用于测试人员进行交互的一个测试软件。

9.如按权利要求8所述的PC机，其特征在于：所述的测试软件含有：

参数设置部件、初始化部件和开关功能部件，其中，

参数设置部件含有：

回环设置模块：提供Line Loop和XFI Loop的选择按钮来选择回环类型；

频率设置模块：提供9.95Gbps～11.10Gbps至少四个频段的选项；

码型设置模块：提供PRBS7和PRBS31的选项；

输出数据反向设置模块：提供输出数据反向选择；

上述初始化部件含有为Line Loop和XFI Loop两种模式，首先向误码测试芯片的寄存器0xB8和0x38写入0xF5，然后，当为Line Loop时，向寄存器0xAF写入0x1B，设置误码计数翻转的门限值；

所述的开关功能部件，是控制所述发送数据模块发送数据，使上述单片机C8051F320开始计时的部件；

它还含有测试结果显示模块，主要完成读取测试时间，读取测试误码数，读取测试误码计数器翻转个数，计算误码率，显示误码率。

10.如按权利要求9所述的PC机，其特征在于：所述的误码率＝(误码数+2^40×翻转次数)/(测试时间×速率)，由于误码计数器有40-bits，所以每翻转一次，表示有2的40次方个误码产生。