[发明专利]利用低密度奇偶校验码来处理光信息的装置和方法无效

专利信息
申请号: 200910171573.X 申请日: 2007-08-13
公开(公告)号: CN101673560A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 郑飞雄 申请(专利权)人: 大宇电子株式会社
主分类号: G11B7/0065 分类号: G11B7/0065;G11B20/18
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李 辉
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 利用 密度 奇偶 校验码 处理 信息 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光信息再现装置,该光信息再现装置包括:

光束源;

光信息检测部分,其用于检测通过将从所述光束源投射出的光束投 射到记录介质上而从该记录介质再现出的数据页;

解码部分,其用于识别地址块、从包括在所述数据页中的多个数据 块中检测数据块中包括的子块以及位于该数据块的中心的标记,并且解 码该子块的数据;以及

其中,所述解码部分包括:解映射单元,其用于对在所述光信息检 测部分处检测到的数据页的子块进行解映射;以及解码器,其用于利用 在该解映射单元处解映射出的值将所述子块解码成低密度奇偶校验码,

其中,所述解码器通过利用在所述解映射单元处根据所述数据块的 密度计算出的概率值来进行解码处理,

其中,所述数据块的密度是利用所述标记的密度计算出的。

2.一种光信息再现方法,该光信息再现方法包括以下步骤:

检测通过将从光源投射出的光束投射到记录介质上而从该记录介质 再现出的数据页;

识别所述数据页中包括的地址块;

检测所述数据页中包括的多个数据块、位于所述数据块的中心的标 记以及位于该标记周围的多个子块;以及

将从所述子块检测到的数据解码成低密度奇偶校验码;

其中,所述解码步骤是利用根据所述数据块的密度计算出的概率值 来进行的,

其中,所述数据块的密度是利用所述标记的密度计算出的。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大宇电子株式会社,未经大宇电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910171573.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top