[发明专利]多层光盘及其记录方法

权利要求书

1.一种多层光盘的记录方法，使用具有3层以上的可擦写型或可写型信息记录层，在该多个信息记录层中至少具有第1记录层、和比第1记录层距离光入射面近的第2记录层，在第1记录层中具有由多个小区域构成的第1测试区域，在第2记录层具有由多个小区域构成的第2测试区域的光盘，所述多层光盘的记录方法的特征在于，

预先决定预定的半径距离L，

在所述第2测试区域中的任意的小区域已进行了测试记录的情况下，把与第2测试区域中的已记录测试区域的半径距离在所述预定的半径距离L的范围内的第1测试区域中的小区域，作为不进行测试记录的小区域。

2.根据权利要求1所述的多层光盘的记录方法，其特征在于，

通过比较小区域的地址来判定是否是预定的半径位置范围。

3.根据权利要求1所述的多层光盘的记录方法，其特征在于，

把预定的半径位置范围L决定为与多个层的半径位置的相对误差、偏心量以及光束直径之和相当的距离。

4.根据权利要求1所述的多层光盘的记录方法，其特征在于，

所述小区域大致分为所述第1记录区域以及第2记录区域。

5.根据权利要求1所述的多层光盘的记录方法，其特征在于，

所述小区域的大小与记录单位块大小相等。

6.根据权利要求1所述的多层光盘的记录方法，其特征在于

在所述不进行测试记录的小区域的至少一部分中，记录用于表示是不可使用区域的哑信息。

7.根据权利要求1所述的多层光盘的记录方法，其特征在于，

具有在特定区域中记录用于判定第1测试区域中的各个小区域是否可以使用的信息。

8.一种具有多个测试区域的多层光盘，其具有3层以上的可擦写型或可写型信息记录层，该多个信息记录层中至少具有第1记录层、和比第1记录层距离光入射面近的第2记录层，在第1记录层中具有由多个小区域构成的第1测试区域，在第2记录层具有由多个小区域构成的第2测试区域，该多层光盘的特征在于，

具有记录用于判定第1测试区域的各个小区域是否可以使用的信息的特定区域。

9.一种多层光盘的记录方法，使用具有3层以上的可擦写型或可写型信息记录层，在该多个信息记录层中至少具有第1记录层、和比第1记录层距离光入射面近的第2记录层，在第1记录层中具有由多个记录单位块构成的第1测试区域，在第2记录层具有由多个记录单位块构成的第2测试区域的光盘，所述多层光盘的记录方法的特征在于，

决定半径距离L，

在所述第2测试区域中的任意的记录单位块已进行了测试记录的情况下，把与第2测试区域中的已记录测试区域的半径距离在所述预定的半径距离L的范围内的第1测试区域中的记录单位块，作为不进行测试记录的记录单位块。

10.根据权利要求9所述的多层光盘的记录方法，其特征在于，

把上述半径距离L决定为与多个层间的半径位置的相对误差、多个层间的相对偏心量、和记录再生对象层以外的光束半径之和相当的距离。

11.根据权利要求10所述的多层光盘的记录方法，其特征在于，

作为上述多个层间的半径位置的相对误差、多个层间的相对偏心量、记录再生对象层以外的光束半径的值，使用由预先决定的光盘的物理规格范围规定的值。

12.根据权利要求10所述的多层光盘的记录方法，其特征在于，

上述多个层间的半径位置的相对误差、多个层间的相对偏心量、和记录再生对象层以外的光束半径的值，使用由光盘的物理规格范围规定的值、和通过实际检测实际的光盘的状态而求出的值的二者中的某一个来决定。