[发明专利]产生维特比解码器的参考电平的设备和方法

权利要求书

1、一种产生维特比解码器的参考电平的设备，所述维特比解码器接收输入信号并根据参考电平输出输出信号，所述设备包括：

第一参考电平检测单元，使用第一延迟输入信号和维特比解码器的输出信号来检测第一参考电平，其中，所述延迟输入信号相对于输入信号被延迟；

第二参考电平检测单元，使用维特比解码器的输出信号和比第一延迟输入信号晚一个时钟周期输入的第二延迟输入信号和比第一延迟输入信号早一个时钟周期输入的第三延迟输入信号，来检测第二参考电平；

控制单元，使用在第一参考电平检测单元中计算的第一参考电平的第一平方电平误差和在第二参考电平检测单元中计算的第二参考电平的第二平方电平误差之间的比较结果，来将第一参考电平和第二参考电平中的一个参考电平选择为维特比解码器的参考电平。

2、如权利要求1所述的设备，其中：

第一参考电平检测单元通过对第一参考电平和维特比解码器的输入信号之间的差取平方来获得第一平方电平误差；

第二参考电平检测单元通过对每个第二参考电平和维特比解码器的输入信号之间的差取平方来获得第二平方电平误差。

3、如权利要求1所述的设备，其中，控制单元将第一和第二参考电平中的一个参考电平选择为参考电平，所选择的参考电平在第一和第二平方电平误差中具有最小平方电平误差。

4、如权利要求1所述的设备，其中：

第二参考电平检测单元包括：

第一参考电平检测器，使用比第一延迟输入信号晚一个时钟周期输入的第二延迟输入信号来检测第二参考电平中的一个参考电平；和

第二参考电平检测器，使用比第一延迟输入信号早一个时钟周期输入的第三延迟输入信号来检测第二参考电平中的另一个参考电平，

所述控制单元将第一参考电平和第二参考电平中的一个参考电平选择为参考电平，所选择的参考电平在分别在第一电平检测单元和第二电平检测单元中计算的第一和第二平方电平误差中具有最小的平方电平误差。

5、如权利要求4所述的设备，其中：

第一参考电平检测单元、第一参考电平检测器和第二参考电平检测器中的每一个都分别包括：

延迟单元，延迟维特比解码器的输入信号；

缓冲器，按预定比特存储维特比解码器的输出信号并输出存储的信号；

复用器，根据从缓冲器输出的输出存储信号来发送从延迟单元输出的延迟输入信号；

包括多个平均值检测器的平均值检测器组，检测通过复用器有选择地发送的信号的平均值，并输出检测的值，其中，平均值检测器的数目对应于产生的参考电平的数目；

存储器，存储从平均值检测器组输出的参考值中的至少一个；和

平方电平误差计算器，使用存储在存储器中的参考电平之一和维特比解码器的输入信号来计算平方电平误差，

其中，包括在第一参考电平检测器中的延迟单元输出比从包括在第一参考电平检测单元中的延迟单元输出的输入信号晚一个时钟周期输入的信号，

包括在第二参考电平检测器中的延迟单元输出比从包括在第一参考电平检测单元中的延迟单元输出的输入信号早一个时钟周期输入的信号。

6、如权利要求5所述的设备，其中，平方电平误差计算器使用存储在存储器中的参考电平中的理想参考电平。

7、一种产生维特比解码器的参考电平的方法，所述维特比解码器接收输入信号并根据参考电平输出输出信号，所述方法包括：

接收输入信号和维特比解码器的输出信号；

使用第一延迟输入信号和接收的输出信号检测维特比解码器的第一参考电平；

使用维特比解码器的输出信号和比第一延迟输入信号晚一个时钟周期的第二延迟输入信号和比第一延迟输入信号早一个时钟周期的第三延迟输入信号检测第二参考电平；

分别计算第一参考电平的第一平方电平误差和第二参考电平的第二平方电平误差；

根据计算的第一平方电平误差和第二平方电平误差之间的比较结果选择维特比解码器的参考电平。

8、如权利要求7所述的方法，其中，计算第一平方电平误差的步骤包括对检测的第一参考电平和维特比解码器的输入信号之间的差取平方；

计算第二平方电平误差的步骤包括对第二参考电平和维特比解码器的输入信号之间的相应差取平方。