[发明专利]低糙度润滑剂与环磷腈环的混合物无效

专利信息
申请号: 200910173385.0 申请日: 2009-08-05
公开(公告)号: CN101667429A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 杨季平;M·J·施蒂尼曼;X·马;桂靖 申请(专利权)人: 希捷科技有限公司
主分类号: G11B5/725 分类号: G11B5/725;C10M111/04;C10M107/38;C10M105/74;G11B5/84;C10N40/18
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 樊云飞
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 低糙度 润滑剂 环磷腈环 混合物
【说明书】:

背景技术

[0001]硬盘驱动器的记录密度一直稳步增长。事实上,已有记录密度 100gigabits/平方英寸(Gbit/inch2)的报道。为了达到如此高记录密度的需求就 要尽可能地降低磁盘磁头和磁性记录层的距离。现在该距离一般是20nm。

[0002]为了尽可能地降低这种距离,应当尽可能地减小磁盘的表面粗糙度。 因此,现在已经由接触开始/停止(CSS)系统向负载/卸载(L/UL)系统转变。 在CSS系统,当磁盘不旋转时磁头与磁盘接触,当磁盘开始旋转时,磁头因空 气流向上抬。在L/UL系统,当磁盘停止时,磁头从磁盘缩回(卸载),当磁盘 开始旋转时磁头负载在磁盘上。而且,在L/UL系统,防滑的特征能一定程度的 缓和。但是,硬盘驱动器必须能够承受负载操作的冲击,以及正常操作中所突 发的不规则磁头定位。

[0003]一般的是,已经在磁盘的上表面应用全氟聚醚(PFPE)基润滑剂来 减少摩擦。但是,PFPE基润滑剂,例如Zdol和Ztetraol,在例如Al2O3的路易 斯酸存在时,遭受催化降解。人们认为这是因为摩擦热或分解引起的热分解生 成氟化氢(HF)所致,HF引起链反应,导致润滑剂的进一步分解。

[0004]另外,长链PFPE润滑剂,例如ZDol和ZTetraol还有更大的缺点。 因为ZDol和ZTetraol仅在全氟聚醚(PFPE)链的两端拥有官能团(羟基),全 氟聚醚链倾向于在磁盘表面聚积。全氟聚醚链的聚积导致润滑剂的高粗糙度。

[0005]人们现在正调查研究改善磁盘的保护层和润滑层,减少因磁头和磁盘 接触引起的摩擦和损坏。例如,已报道了含有全氟聚醚的润滑剂混合物,该全 氟聚醚含有一个环磷腈环基团。但是,将含有环磷腈环基团的全氟聚醚与ZDol 和ZTetraol润滑剂混合仍然导致润滑剂的高粗糙度。

发明概述

[0006]本发明的一实施方式包含一种组合物,该组合物含有低糙度(low profile)润滑剂与含有一个或多个环磷腈环的化合物组成的混合物,其中,低糙 度润滑剂含有具有全氟聚醚链的骨架和连接在该骨架上的至少三个官能团。

[0007]在以下的详细描述中,仅借助于实施本发明的最佳方式,显示和描 述了本发明的优选实施方式。应该意识到,本发明具有其它或不同的实施方式, 具体细节可以在各个方面作出修改,这些修改都不背离本发明的宗旨。相应的 是,这些描述被认为在本质上是阐述性的而不是限制性的。

附图概述

[0008]图1A是介质存储装置的结构示意图。

[0009]图1B是高糙度润滑剂的结构示意图。

[0010]图1C是全氟聚醚骨架的结构示意图。

[0011]图1D是ZDol存储介质润滑剂的末端基团的结构示意图。

[0012]图1E是ZTetraol存储介质润滑剂的末端基团的结构示意图。

[0013]图2是比较低糙度润滑剂和高糙度(high profile)润滑剂的结构示意图。

[0014]图3描述本发明实施方式中一种制备低糙度润滑剂的方法。

[0015]图4是一种低糙度润滑剂的NMR图。

[0016]图.5是低糙度润滑剂和高糙度润滑剂的气相色谱比较图。

[0017]图6是不同分子量的低糙度润滑剂的合成的气相色谱图。

[0018]图7是一种低糙度润滑剂的NMR图。

[0019]图8是比较不同润滑系统的高度拖曳实验结果的箱线图(box plot)。

[0020]图.9是一种低糙度润滑剂的NMR图。

[0021]图10是比较一些低糙度润滑剂键合比(bond ratio)的条形图。

[0022]图11是比较本发明几种实施方式的润滑剂损失(lube loss)的条形图。

[0023]图.12是比较本发明几种实施方式的水接触角的条形图。

[0024]图.13是比较本发明几种实施方式键比的条形图。

[0025]图14是比较本发明几种实施方式的润滑剂损失的条形图。

[0026]图15是比较本发明几种实施方式的水接触角的条形图。

[0027]图16是几种低糙度润滑剂的热稳定性说明图。

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