[发明专利]用于粒子分类系统的光学检测器无效
申请号: | 200910173676.X | 申请日: | 2004-08-16 |
公开(公告)号: | CN101776599A | 公开(公告)日: | 2010-07-14 |
发明(设计)人: | J·R·吉尔伯特;E·辛诺夫斯基;M·德什潘德 | 申请(专利权)人: | 塞通诺米/ST有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/01 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;李辉 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 粒子 分类 系统 光学 检测器 | ||
1.一种使用反射分束器将单个入射光束形成为间距受控的更小光束阵列的系统,该系统包括:
反射沟槽的均匀阵列;以及
用于以选定的角度将反射沟槽阵列呈现给入射束的定位器。
2.一种用于对包括传输粒子的微流体通道阵列的微流体系统进行问询的光学检测系统,该光学检测系统包括:
用于产生光束的光源;
包括反射分束器的一组束成型光学元件,用于将该光束分裂成多个辅助光束;
和该微流体系统内的微流体通道阵列相匹配的针孔阵列,其中该束成型光学元件将所述多个辅助光束的每个引导穿过所述针孔之一。
3.一种用于观察微流体系统的光学检测系统,其中该微流体系统包括传输粒子或分子的通道,该光学检测系统包括:
用于产生光束的光源;
用于聚焦该光束的一组束成型光学元件;
和该微流体系统的通道相连通的针孔;以及
高数值孔径的荧光检测器,用于同时问询该微流体系统内的多个通道并使用图像增强器作为光学放大元件。
4.一种用于观察微流体系统的光学检测系统,其中该微流体系统包括用于传输粒子或分子的通道,该光学检测系统包括:
一个或多个激光,该激光通过只在斑点位置开口的掩模而照射一空间扩展斑点阵列;
第一高数值孔径透镜,该透镜被置成立刻捕捉来自整个空间扩展斑点阵列的光线;
光谱分离元件,用于接收和弯曲来自第一透镜的光线;
第二高数值孔径透镜,用于捕捉被该光谱分离元件弯曲的光线并将所捕捉的光线成像到第二针孔阵列;
位于第二针孔阵列之后的图像增强器,用于检测和放大穿过该针孔阵列的光线;以及
光电二极管检测器阵列,用于捕捉和转换来自图像增强器的光线。
5.权利要求4的检测器,进一步包括耦合到该光电二极管检测器以采集来自该光电二极管检测器的电子输出的电子数据采集系统。
6.权利要求4的检测器,进一步包括置于所述斑点阵列和图像增强器之间的激光波段闭塞滤波器。
7.权利要求4的检测器,其中该检测器能够放大来自空间扩展多个斑点的且持续时间小于一毫秒的低强度光谱,并能够将该光谱转换成电信号。
8.一种光学系统,包括:
光源,用于产生穿过待监视对象的光束;
透镜,用于捕捉来自该光源的光线;以及
包括光放大元件的检测器,用于检测光信号并将所述光信号转换成电信号。
9.权利要求8的光学系统,其中该光放大元件包括光电管阵列。
10.权利要求8的光学系统,其中该光放大元件包括耦合到光电二极管检测器阵列的基于多通道平板的图像增强器。
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