[发明专利]光碟机测试方法无效
申请号: | 200910174048.3 | 申请日: | 2009-10-20 |
公开(公告)号: | CN102044277A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | 赖俊文;郭起祥 | 申请(专利权)人: | 广明光电股份有限公司 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 史新宏 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光碟 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种光碟机的测试方法,尤其是涉及光碟机利用对光盘烧录次数,检查光碟机使用寿命的测试方法。
背景技术
为了确保光碟机出厂的品质及稳定度,出厂前光碟机必需经过测试,将数据重复多次实际烧录在光盘上,并经由检查烧录后的结果,判断光碟机性能是否正常,以测试光碟机耐久性的使用寿命。
如图1所示,台湾第095146141号专利申请案所公开的先前技术,为一光碟机测试功能方块图,是对可重复读写的光碟机1进行测试。其测试过程首先针对CD、DVD或是BD等可覆写的光盘2,设定光碟机测试光盘1模式。利用微处理器3归零计数器4并设定测试成功次数上限。由微处理器3移动光学读取头5至光盘2内圈的起始点,并控制聚焦伺服单元6将雷射驱动单元7驱动光学读取头5发射烧录功率的雷射光束,聚焦在光盘2的数据层8。再由微处理器3控制循轨伺服单元9移动光学读取头5,沿着光盘2的数据轨,由内圈至外圈开始烧录数据。烧录完成后,由微处理器3控制光学读取头5,重头沿着光盘2的数据轨读取烧录至光盘的数据记号,解码成数据信号。
接着,由读取数据与原烧录数据比对,判断是否成功将数据烧录至光盘?若未成功将数据烧录至光盘,光碟机未通过使用寿命检验,判定为测试失败,并结束测试;若成功将数据烧录至光盘上,则由微处理器3控制计数器4将测试成功次数加一。然后检查测试成功次数是否达到上限?若未达到上限,则由微处理器3控制雷射驱动单元7驱动光学读取头5发射擦除功率的雷射光束擦除烧录至光盘上的数据,回至光盘2内圈的起始点重新测试;若已达到测试成功次数的上限,则判定光碟机1通过使用寿命检验测试,并结束测试。
然而,先前技术利用可覆写的光盘进行光碟机的测试,虽可以节省光盘的消耗,但先前技术在每次测试过程皆需聚焦在光盘2的数据层8,进行烧录、读取数据、判断烧录成功以及擦除光盘数据等程序,在光碟机的测试过程中,耗费大量的测试时间,使得测试效率变低,增长光碟机制造时间,且先前技术仅能对可烧录的光碟机进行测试,无法适用测试其他光碟机。因此先前技术光碟机在测试的方法上,仍有问题亟待解决。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光碟机测试方法,通过检测光学读取头的雷射光束输出功率的变化,直接判断光碟机是否正常通过测试,简化测试程序,以节省测试时间。
本发明另一目的在于提供一种光碟机测试方法,利用光学读取头的雷射光束聚焦偏移离光盘数据层或标签面,避免烧录光盘,以节省光盘的损耗。
本发明再一目的在于提供一种光碟机测试方法,通过虚拟烧录光盘,而可测试各种光碟机,以增加测试的适用范围。
为了达到前述发明的目的,本发明的光碟机测试方法,归零测试成功次数计数及设定测试成功次数上限;以预定功率的雷射光束,聚焦偏移离光盘数据层或标签面进行虚拟烧录;检测输出功率;检查输出功率的变化,产生变化判断光碟机测试失败,未产生变化,完成虚拟烧录将测试成功次数加一,测试次数达上限,判断通过光碟机测试。
附图说明
图1为先前技术光碟机测试的功能方块图。
图2为本发明测试光碟机的功能方块图。
图3为本发明测试的预定聚焦电平的示意图。
图4为本发明光碟机测试方法的流程图。
【主要元件符号说明】
10光碟机
11微处理器
12雷射驱动单元
13光学读取头
14聚焦伺服单元
15循轨伺服单元
16功率检测单元
17计数器
18光盘
19数据层
20上偏移聚焦电平
20’下偏移聚焦电平
具体实施方式
有关本发明为达成上述目的,所采用的技术手段及其效果,现在举优选实施例,并配合附图加以说明如下。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广明光电股份有限公司,未经广明光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910174048.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。