[发明专利]跟踪误差信号检测装置和光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及光盘或类似装置中使用相位差检测(differential phase detection，DPD)的跟踪误差信号(TE)检测装置以及光盘装置。

背景技术

在光盘控制器中，DPD跟踪误差(TE)检测装置(即，电路)经常 被设置以生成用于ROM型盘的TE信号。目前，这种DPD TE检测装置是 利用高速、高精度模拟电路实现的(例如，参见日本专利No.3336778、 No.3065993、No.3439393和No.3769888，以及日本未实审专利申请公布 No.S57-191839、No.S57-181433、No.S63-148433、No.H07-296395、No. S63-131334和No.2006-260645)。

然而，同时，将模拟信号处理和数字信号处理集成到单个芯片上近年 来已取得了进步，这与系统LSI技术的发展是相结合的。光盘控制器芯片 也不是这一趋势的例外。因而，与信号处理的逐渐数字化的发展相结合， 需要使DPD TE检测装置被集成到数字芯片上。

现在将利用下面的示例1至3来描述设计来满足该需要的技术。

<示例1>

在示例1的技术中，设计为模拟电路的DPD电路被利用模拟电路技 术“原样”合并在数字芯片上。

更具体而言，现有配置(由高范围增压器(均衡器)、二进制器(切 波器)和边缘比较相位比较器构成)可以被利用模拟电路技术原样安装到 数字芯片上，就像作为示例在日本专利No.3336778中所描述的那样。

在这种情况下，高范围增压器(均衡器)和二进制器(切波器)的数 目等于DPD计算通道的数目(即，2或4)。

严格地说，在没有高范围增压电路(均衡器)的情况下仍然可以进行 相位差检测。然而，由于使用了边缘比较相位比较器，因此高范围增压电 路(均衡器)被用于适当地进行二进制化。

采用二进制器(切波器)和边缘比较相位比较器是为了抑制TE检测 灵敏度的波动，该波动取决于RF幅度。通过仅仅检测边缘的相位差，抑 制了相对于幅度波动的灵敏度。

边缘比较相位比较器结合了一种去除伪边缘和啁啾(chattering)的机 制，这种伪边缘和啁啾是由高范围频率特性(f曲线)中的缩减、噪声或 非对称性之类的现象产生的(由于盘偏斜或失焦(OTF波动))。这种机 制被用于去除这种噪声并呈现出实际的TE检测灵敏度。

为此，边缘去除机制是利用异步递归电路配置实现的。

<示例2>

示例2所采取的方法涉及采用在日本未实审专利申请公布No.S57- 191839中公开的模拟相关(correlation)检测技术。

示例2中的电路由90°移相器、乘法器和LPF构成，所有这些组件都 完全是以模拟方式实现的。

在先前的示例1中，信号首先被适当地二进制化，并且其边缘随后被 进行相位比较。相比之下，在示例2中，进行波形相位比较(即，相关计 算)。因此，示例2中的技术在原理上可以省略高范围增压电路，该电路 的电路规模较大。

在示例2的技术中，并不使用边缘比较相位比较器，因而也可以省略 利用异步递归循环来去除伪边缘和啁啾的机制。

<示例3>

示例3所采取的方法涉及替换由高速模拟电路实现的现有DPD电路 来进行数字信号处理(例如，参见日本专利No.3439393和日本未实审专 利申请公布No.2006-260645)。

示例3中的技术包括A/D转换器、高范围增压器和补偿器、零交叉生 成器和零交叉相位比较器，它们被配置为按以上顺序处理信号。因而，示 例1中的模拟处理系统可以被认为已经被原样替换为进行数字信号处理。

发明内容

然而，由于以上示例1中使用的高范围增压电路(即，均衡器)由高 阶传递函数构成，因此其电路规模自然较大。而且，存在以下问题：即这 种电路并不适合于微CMOS工艺上的模拟电路，这是因为其具有高度灵敏 的元件和相当大的波动。

另外，当RF频率明显改变时，例如当执行从最内侧边缘到最外侧边 缘的完全搜索时，存在另一种困难。在这些情况下，在频率范围内准确跟 踪传递函数的极点和零点是困难的。