[发明专利]接触检测设备和显示设备有效
申请号: | 200910175127.6 | 申请日: | 2009-09-16 |
公开(公告)号: | CN101676846A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 野口幸治;竹内刚也 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G02F1/13;G09G5/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄小临 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 检测 设备 显示 | ||
1.一种接触检测设备,包括:
接触响应部件,配置成响应于被检测的物体接触或接近检测表面而产生 电气改变;以及
接触驱动扫描部件,配置成在所述检测表面内沿一个方向扫描向所述接 触响应部件的驱动电压的施加,以及沿时间序列控制所述电气改变的输出,
其中,所述接触驱动扫描部件彼此并行地执行所述接触响应部件的不同 区域的多个扫描,以及彼此并行地输出多个所述电气改变。
2.根据权利要求1所述的接触检测设备,还包括:
检测线组,配置成在所述接触响应部件的扫描方向长的平行带的形式; 以及
检测部件,配置为从所述检测线组中的电压改变检测所述电气改变的出 现,以及识别出现的位置,
其中,所述检测线组与所述接触响应部件的所述多个区域相交的方式和 所述接触驱动扫描部件驱动所述多个区域的方式中的至少一种方式在所述 区域之间不同,以及
所述检测部件基于检测线的电压改变图案,识别所述多个区域中所述被 检测物体接触或接近的一个区域,该电压改变图案根据所述区域之间所述相 交方式和所述驱动方式中的至少一种方式中的不同而出现。
3.根据权利要求2所述的接触检测设备,其中,
由所述接触驱动扫描部件输出的所述驱动电压的相位和幅值中的至少 一个在所述多个区域之间不同,以及
所述检测部件连接到所述检测线组的所述扫描方向的一端,以及基于检 测线的电压改变图案,识别所述多个区域中所述被检测物体接触或接近的一 个区域,该电压改变图案根据所述驱动电压的不同而出现。
4.根据权利要求3所述的接触检测设备,其中,
配置预定数目的检测线以便以相同方式与所述接触响应部件的两个区 域相交,以及
所述接触驱动扫描部件将彼此之间相位反转180度的所述驱动电压提供 给所述两个区域。
5.根据权利要求3所述的接触检测设备,其中,
配置预定数目的检测线以便以相同方式与所述接触响应部件的多个区 域相交,以及
所述接触驱动扫描部件将幅值不同的所述驱动电压提供给所述多个区 域。
6.根据权利要求3所述的接触检测设备,其中,
对于所述接触响应部件的两个区域配置两个集合的预定数目k(≥2)的 检测线,一个集合的检测线配置成与一个区域相交,并且两个集合的检测线 配置成与另一个区域相交,以及
所述接触驱动扫描部件将彼此之间相位反转180度的所述驱动电压提供 给所述一个区域和所述另一个区域。
7.根据权利要求3所述的接触检测设备,其中,
对于所述接触响应部件的N个区域配置N(≥2)个集合的预定数目k (≥2)的检测线,与所述多个区域分别重叠的检测线的集合数目彼此之间 不同,以及
所述接触驱动扫描部件将幅值不同的所述驱动电压提供给所述多个区 域。
8.根据权利要求1所述的接触检测设备,还包括:
两个集合的预定数目的检测线,所述检测线在所述接触响应部件的扫描 方向长并且是平行带的形式;以及
两个检测部件,每个检测部件在所述扫描方向的一端连接到相应集合的 所述预定数目的检测线,所述两个检测部件中的每一个基于在相应集合的预 定数目的检测线中出现的电压改变图案,检测所述电气改变的出现,以及识 别出现的位置。
9.根据权利要求1所述的接触检测设备,其中,
所述接触响应部件通过在平行于所述检测表面的平面内以矩阵的形式 配置传感器而形成,以及
当所述传感器的预定方向中的行是所述接触响应部件内的线时,所述接 触驱动扫描部件以所述线作为最小单位沿多个所述线重复配置的方向执行 扫描。
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