[发明专利]微反射镜阵列制造方法有效

专利信息
申请号: 200910175401.X 申请日: 2009-11-12
公开(公告)号: CN101718906A 公开(公告)日: 2010-06-02
发明(设计)人: 徐永青;杨拥军;李艳丽 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: G02B26/08 分类号: G02B26/08
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 米文智
地址: 050051 河北省石家庄市中国*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 反射 阵列 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种微反射镜阵列制造方法,该方法采用体硅MEMS加工技术、垂直梳齿驱动方式、晶片键合工艺以及刻蚀技术,其特征在于:中间驱动层加工好后进行晶片键合,在驱动层上方覆盖一层反射镜面,在此基础上采用深刻蚀释放技术释放驱动层中保留的支撑柱,实现微反射镜的扭转,具体步骤为:

1)双面抛光衬底玻璃片(1)、驱动结构层硅片(2)、反射镜面层硅片(3);

2)在衬底玻璃片(1)上涂覆光刻胶,曝光、显影后得到电极布线图形;

3)在衬底玻璃片(1)上形成金属层,并采用剥离工艺去掉不需要的金属,形成金属布线;

4)在驱动结构层硅片(2)的正面涂覆光刻胶,曝光、显影后得到定驱动梳齿(10)、锚点、支撑柱(11)的结构图形;

5)对步骤4)的硅片采用深反应离子刻蚀垂直腐蚀掉没有光刻胶保护的部分,形成定驱动梳齿(10)、锚点、支撑柱(11)结构;

6)衬底玻璃片(1)与驱动结构层硅片(2)正面静电键合;

7)在驱动结构层硅片(2)背面涂覆光刻胶,曝光、显影后得到动驱动梳齿(4)、扭梁(8)的结构图形;

8)对步骤7)的硅片(2)采用深反应离子刻蚀垂直腐蚀掉无光刻胶保护的部分,刻蚀深度位置与步骤5)所述硅刻蚀衔接,形成动驱动梳齿(4)、扭梁(8)结构;

9)在反射镜面层硅片(3)的正面上形成键合金属层(6);

10)在反射镜面层硅片(3)正面涂覆光刻胶,曝光、显影得到金属-硅共晶键合锚点图形;

11)对反射镜面层硅片(3)正面进行深反应离子刻蚀,形成扭梁(8)上方的悬空区域;

12)将反射镜面层硅片(3)的正面和驱动结构层硅片(2)的背面共晶键合;

13)在反射镜面层硅片(3)的背面涂覆光刻胶,曝光、显影后得到支撑柱释放孔(7)、镜面单元周边释放槽的结构图形;

14)采用深反应离子刻蚀释放工艺在反射镜面层硅片(3)背面刻蚀形成支撑柱释放孔(7),释放支撑柱(11),并形成镜面单元周边释放槽,释放微镜单元。 

2.根据权利要求1所述的微反射镜阵列制造方法,其特征在于所述的衬底玻璃片(1)厚度至少为200μm,驱动结构层硅片(2)厚度至多为250μm,反射镜面硅片(3)厚度至多为250μm。

3.根据权利要求1所述的微反射镜阵列制造方法,其特征在于所述步骤3)中的金属层的金属为铬、钛或金中的任意一种,铬或钛的厚度为10nm-30nm,金的厚度至少为80nm。

4.根据权利要求1所述的微反射镜阵列制造方法,其特征在于所述步骤5)中刻蚀深度为150μm-170μm。

5.根据权利要求1所述的微反射镜阵列制造方法,其特征在于所述步骤9)中的金属层的金属为铬、钛或金中的任意一种,其中铬或钛的厚度为10nm-30nm,金的厚度至少为0.5μm。

6.根据权利要求1所述的微反射镜阵列制造方法,其特征在于所述步骤11)中刻蚀深度至少为20μm。

7.根据权利要求1所述的微反射镜阵列制造方法,其特征在于所述步骤14)中刻蚀深度至少为270μm。 

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