[发明专利]二维式架构的电容式触控板的定位方法有效

专利信息
申请号: 200910175943.7 申请日: 2009-09-14
公开(公告)号: CN102023765A 公开(公告)日: 2011-04-20
发明(设计)人: 林嘉兴;陶逸欣;粘紘;宋柏安;蔡欣学;曾玄文 申请(专利权)人: 义隆电子股份有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 代理人: 张荣义
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 二维 架构 电容 式触控板 定位 方法
【权利要求书】:

1.一种二维式架构的电容式触控板的定位方法,所述电容式触控板具有第一感应线、第二感应线及第三感应线,所述第一感应线分别与所述第二感应线及所述第三感应线相交形成第一交点及第二交点,其特征在于所述定位方法包括以下步骤:

(a)在第一状态下同相激活所述第一感应线及所述第二感应线,检测所述第一感应线取得第一电容值;

(b)根据所述第一电容值设定一基准值;

(c)在第二状态下同相激活所述第一感应线及所述第二感应线,检测所述第一感应线取得第二电容值;

(d)在所述第二状态下同相激活所述第一感应线及所述第三感应线,检测所述第一感应线取得第三电容值;以及

(e)分别将所述第二、第三电容值与所述基准值比较以判断对象位置;

其中,在所述第一状态时,无对象接触所述电容式触控板,在所述第二状态时,有对象接触所述电容式触控板。

2.如权利要求1所述的定位方法,其特征在于,所述步骤(b)包括当接触所述触控板的对象数目越多时,将所述基准值设定的越高。

3.如权利要求1所述的定位方法,其特征在于,所述步骤(e)包括以下步骤:

若所述第二电容值大于所述基准值,判定所述第一交点有对象接触;

若所述第三电容值大于所述基准值,判定所述第二交点有对象接触;以及

若所述第二及第三电容值皆大于所述基准值,判定有第一对象及第二对象分别接触所述第一交点及所述第二交点。

4.一种二维式架构的电容式触控板的定位方法,所述电容式触控板具有复数条第一方向感应线及复数条第二方向感应线,其特征在于所述定位方法包括以下步骤:

(a)依序扫瞄所述第一方向感应线及所述第二方向感应线,产生二维式检测帧;

(b)同相交错扫瞄所述第一方向感应线及所述第二方向感应线,获得全点式检测帧;以及

(c)根据所述二维式检测帧及所述全点式检测帧,获得所述电容式触控板上的对象接触信息。

5.一种二维式架构的电容式触控板的定位方法,所述电容式触控板具有复数条第一方向感应线及复数条第二方向感应线,其特征在于所述定位方法包括循序执行下列步骤:

(a)依序扫瞄所述第一方向感应线及所述第二方向感应线,获得二维式检测信息;

(b)检测所述电容式触控板上的对象数目,并判断所述对象数目是否大于一;

(c)若所述对象数目小于或等于一,则回到步骤(a);

(d)若所述对象数目大于一,则依序对所述第一方向感应线及所述第二方向感应线同相交错驱动,并检测获得全点式检测信息;

(e)再次检测所述电容式触控板上的对象数目,并判断所述对象数目是否大于一;

(f)若所述对象数目小于或等于一,则回到步骤(a);以及

(g)若所述对象数目大于一,则回到步骤(d)。

6.一种二维式架构的电容式触控板的定位方法,所述电容式触控板具有复数条第一方向感应线及复数条第二方向感应线,其特征在于所述定位方法包括循序执行下列步骤:

(a)依序扫瞄所述第一方向感应线及所述第二方向感应线,产生二维式检测信息;

(b)根据所述二维式检测信息判断是否出现鬼点现象;

(c)若否,则回到步骤(a);以及

(d)若是,则针对出现鬼点现象附近的第一方向感应线和第二方向感应线,依序进行同相交错激活,并对所述感应线检测以获得所述感应线的全点式检测信息,消除所述鬼点现象。

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