[发明专利]信号处理装置与信号处理方法

权利要求书

1.一种信号处理装置，其特征在于，包括：

处理电路，根据缺陷信号决定光存储介质上至少一个缺陷区 域的位置并且相应的记录所述至少一个缺陷区域的缺陷位置信 息，所述处理电路包括缺陷位置信息记录单元，所述缺陷位置信 息记录单元包括：

计数器，计算所述光存储介质的每个完整旋转以产生计数 器值，所述计数器值指示所述光存储介质上的相应位置，并且 在所述光存储介质的每个完整旋转之后重设所述计数器至起 始值；以及

存储器，通过储存相应于所述至少一个缺陷区域的计数器 值来记录所述至少一个缺陷区域的所述缺陷位置信息；以及

信号产生电路，耦接于所述处理电路，所述信号产生电路包 括：

调整单元，通过至少第一调整值调整相应于所述至少一个 缺陷区域的已储存计数器值，以产生至少第一已调整计数器 值；

比较单元，耦接于所述计数器与所述调整单元并且用于将 由所述计数器当前计算得到的计数器值与所述第一已调整计 数器值进行比较；以及

信号产生单元，耦接于所述比较单元，所述信号产生单元 根据所述比较单元产生的比较结果产生特定信号并且根据至 少所述特定信号产生输出信号。

2.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所 述处理电路根据频率产生器信号、摆动信号、数据信号或时钟信 号获得所述光存储介质上所述至少一个缺陷区域的所述位置，其 中相应于转轴旋转产生所述频率产生器信号，从所述光存储介质 上的摆动轨道得到所述摆动信号，从所述光存储介质上的数据轨 道得到所述数据信号，所述时钟信号具有预设时钟频率。

3.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所 述处理电路进一步包括：

比较单元，用以将所述缺陷信号中的特定信号部分的宽度与 预设阈值进行比较，其中所述特定信号部分指示所述光存储介质 上的相应缺陷区域；以及

所述缺陷位置信息记录单元，耦接于所述处理电路中的所述 比较单元，当所述处理电路的所述比较单元检测到所述特定信号 部分的所述宽度达到所述预设阈值时，所述缺陷位置信息记录单 元根据所述光存储介质上的所述相应缺陷区域的位置记录所述相 应缺陷区域的缺陷位置信息。

4.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所 述调整单元从相应于所述至少一个缺陷区域的已储存计数器值 中减去所述第一调整值以产生所述第一已调整计数器值，并且将 相应于所述至少一个缺陷区域的已储存计数器值加上第二调整 值以产生第二已调整计数器值；所述比较单元将由所述计数器计 算而得到的所述计数器值分别与所述第一已调整计数器值以及 所述第二已调整计数器值进行比较；以及，当由所述计数器当前 计算而得到的所述计数器值达到所述第一已调整计数器值时，所 述信号产生单元使得所述特定信号具有从第一逻辑电平至第二逻 辑电平的电平变迁，并且当由所述计数器当前计算而得到的所述 计数器值达到所述第二已调整计数器值时，所述信号产生单元使 得所述特定信号具有从第二逻辑电平至第一逻辑电平的电平变 迁。

5.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所 述信号产生单元通过对所述特定信号以及所述缺陷信号执行或 逻辑操作而产生所述输出信号。

6.一种信号处理方法，其特征在于，包括：

根据缺陷信号决定光存储介质上至少一个缺陷区域的位置；

计算所述光存储介质的每个完整旋转以产生计数器值，所述 计数器值指示所述光存储介质上的相应位置，其中，在所述光存 储介质的每个完整旋转之后重设所述计数器值至起始值；

通过储存相应于所述至少一个缺陷区域的计数器值来记录 所述至少一个缺陷区域的所述缺陷位置信息；

通过至少第一调整值调整相应于所述至少一个缺陷区域的 已储存计数器值，以产生至少第一已调整计数器值；

将当前计算得到的计算器值至少与所述第一已调整计数器 值进行比较以产生比较结果；以及

根据所述比较结果产生特定信号并且至少根据所述特定信 号输出输出信号。