[发明专利]一种用于大流量大气颗粒物采样器的切割器无效
申请号: | 200910177422.5 | 申请日: | 2009-09-28 |
公开(公告)号: | CN101666719A | 公开(公告)日: | 2010-03-10 |
发明(设计)人: | 李虹杰;陈仲泉;李前进 | 申请(专利权)人: | 武汉市天虹仪表有限责任公司 |
主分类号: | G01N1/10 | 分类号: | G01N1/10;B01D45/08 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程殿军 |
地址: | 430223湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 流量 大气 颗粒 采样 切割 | ||
技术领域
本发明涉及一种大流量大气颗粒物的采样器,尤其是指采样器上使用的切割器。
背景技术
目前,国内生产使用的大流量采样器大都用于测量大气总悬浮(TSP)颗粒物,PM5、PM2.5型采样器只在科学研究和教学单位开始应用,不久也将成为国家监控标准。国外美国安德森公司早在80年代就研制成功并投入生产带有PM10切割功能的采样器,至今仍在生产。由于它具有整机体积大,结构十分复杂,工艺要求高,不易加工生产,造价高,售价贵,操作和运输不便以及维护难等不足,只有少数科研教学单位使用,难以推广,但是,如果在新一代采样器PM10、PM5、PM2.5等引进国外先进技术也是也不能实现的,因为目前淘汰如此大型的设备,成本太高,而且也是资源的浪费,但是,它们具有相同规格的滤膜和固定滤膜的压框。滤膜大小为250×200mm,底座尺寸为310×242,安装固定空位为228×190mm。可利用空间为320×250×80mm。
发明内容
有鉴于此,本发明的主要解决的技术问题在于提供一种用于大流量大气颗粒物采样器的切割器,通过两次分离装置进行分离颗粒物,其结构简单,准确率高,维护方便。
为达到上述技术问题,本发明的技术方案是这样实现的:一种用于大流量大气颗粒物采样器的切割器,其包括有两级以上分离装置,包括将大于目标粒径颗粒物进行分离的第一级分离装置,以及将分离目标颗粒物进行分离的第二次分离装置。
所述的第一级分离装置包括配合连接的冲击孔板及第一冲击板,且冲击孔板与第一冲击板之间设有密封装置。
所述的第二级分离装置包括配合连接的第一冲击板及第二冲击板,且第一冲击板与第二冲击板之间设有密封装置。
所述的密封装置为防漏气胶圈。
所述冲击孔板上设有放射状的一排以上冲击孔。
所述的冲击孔共设有4排30个。
所述第一冲击板上设有放射状一个以上的通槽或一排以上冲击孔。
所述通槽为长方形的槽,共设有8个,或者设有8排28个冲击孔。
所述的第二冲击板上均设有一个以上冲击条。
在所述第一冲击板和第二冲击板的冲击收集区需涂上硅油或凡士林层。
本发明达到的技术效果如下:
1、结构合理紧凑,造型美观,由冲击孔板、第一冲击板、第二冲击板II和底座组成,通过连接螺栓、螺钉和固定螺栓组装成一体,维修方便。
2、两级分离,先由第一分离级将大于目标粒径的颗粒物截留在第一冲击板上,而后进入第二分离级进行目标粒径颗粒物的分离,把尚存其中的大于目标粒径颗粒物被第二冲击板截留,只符合分离目标粒径的颗粒物通过第二冲击板间隙进入下面的滤膜被收集,使分离准确性高,稳定性好。
3、体积小(安装尺寸310×242×58mm),使用空间与现有大流量采样器相容,用材一般,无特殊加工和装配要求,极易推广应用,有很大的经济效益和社会效益。
4、为防止反弹造成干扰,在第一冲击板和第二冲击板的冲击收集区涂上硅油或凡士林层。
附图说明
图1为本发明切割器的第一面立体示意图;
图2为图1的背面立体示意图;
图3为图1的主视图;
图4为图3的A-A向剖视图;
图5为图3的B-B向剖视图;
图6为图1上的冲击孔板结构示意图;
图7为图6的背面结构示意图;
图8为第一种第一冲击板的结构示意图;
图9为图8的背面结构示意图;
图10为图1上的第二冲击板结构示意图;
图11为图10的背面结构示意图;
图12为图1的底座结构示意图;
图13为图12背面的结构示意图;
图14为第二种第一冲击板的结构示意图;
图15为图14的背面结构示意图。
具体实施方式
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