[发明专利]光学元件无效

专利信息
申请号: 200910177640.9 申请日: 2009-09-27
公开(公告)号: CN101661123A 公开(公告)日: 2010-03-03
发明(设计)人: 林博文;陈士荣;汪宗兴;陈培欣 申请(专利权)人: 长兴化学工业股份有限公司
主分类号: G02B5/00 分类号: G02B5/00;G02F1/13357
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 王海川;穆德骏
地址: 中国台湾高*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 光学 元件
【权利要求书】:

1.一种光学元件,其包含

(a)基材;

(b)位于基材一侧的第一表面,该第一表面包含复数个具圆弧顶部的棱柱结构,且该等圆弧顶部的曲率半径为3微米至20微米;及

(c)位于基材另一侧的第二表面,该第二表面可为一平面或具有凹凸结构。

2.如权利要求1的光学元件,其中至少两个以上的棱柱结构彼此互不平行。

3.如权利要求2的光学元件,其中该等互不平行的棱柱结构是呈已相交或未相交的形式。

4.如权利要求1的光学元件,其中该第二表面具有凹凸结构。

5.如权利要求4的光学元件,其中该第二表面具有不含扩散粒子的凹凸结构。

6.如权利要求4的光学元件,其中该第二表面具有内含扩散粒子的凹凸结构。

7.一种光学元件,其包含:

(a)基材;

(b)位于该基材一侧的第一表面,该第一表面包含复数个具圆弧顶部的棱柱结构,且该等圆弧顶部的曲率半径为3微米至20微米;及

(c)位于基材另一侧的第二表面,该第二表面具有凹凸结构,

其中该等棱柱结构具有小于40℃的玻璃化转变温度。

8.如权利要求7的光学元件,其中该光学元件在基材的第一表面不存在任何结构的情况下,根据JIS K7136标准方法测量,雾度不小于3%。

9.如权利要求7的光学元件,其中该等棱柱结构以JIS K-5400方法测试,可通过HB的铅笔硬度测试。

10.一种光学元件,其包含:

(a)基材;

(b)位于该基材一侧的第一表面,该第一表面包含复数个具圆弧顶部的棱柱结构,且该等圆弧顶部的曲率半径为3微米至20微米;及

(c)位于基材另一侧的第二表面,该第二表面可为一平面或具有凹凸结构,

其中该等棱柱结构以ASTM D4060方法测试(CS-10轮,1,000g,1,000回转),损耗低于100mg。

11.如权利要求10的光学元件,其中该等棱柱结构以JIS K-5400方法测试,可通过HB的铅笔硬度测试。

12.一种直下式背光模块,其包含如权利要求1至11中任一项的光学元件。

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