[发明专利]用于对半导体部件进行控制的方法和设备无效
申请号: | 200910178328.1 | 申请日: | 2009-10-16 |
公开(公告)号: | CN101729052A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 马丁·莱特宁 | 申请(专利权)人: | ABB公司 |
主分类号: | H03K17/94 | 分类号: | H03K17/94 |
代理公司: | 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 | 代理人: | 刘云贵 |
地址: | 芬兰赫*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 对半 导体 部件 进行 控制 方法 设备 | ||
1.一种用于对半导体部件进行控制的方法,所述半导体部件(1)包括受电压控制的栅极,其特征在于该方法包括步骤:
在使用所述半导体部件(1)之前,确定并存储在操作状态改变期间给予所述半导体部件的栅极的栅极电压的参考值;以及
当期望所述半导体部件(1)的操作状态变化时,根据所存储的栅极电压的参考值,驱动电路(C1)将脉冲宽度调制电压提供给与所述半导体部件(1)的栅极相连的电阻器(Rg)。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于将所确定的且存储的电压值存储为脉冲比。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于将所确定且存储的值确定并存储为开关电流的函数,其中在使用所述部件期间该方法包括步骤:对所述开关电流进行度量,并且根据所度量的电流提供脉冲宽度调制信号。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于将所确定且存储的值进一步确定并存储为所述部件的开关电压和温度的函数,其中在使用所述部件期间,该方法包括步骤:
对所述部件的开关电压和温度进行度量或者估计,并且根据所述开关电流、电压、以及温度,提供所述脉冲宽度调制信号。
5.根据前述权利要求1至4任何一项所述的方法,其特征在于所述存储值包括多个时段的持续时间以及在该时段期间所使用的脉冲比。
6.一种用于对半导体部件(1)进行控制的控制设备,部件包括受电压控制的栅极,其特征在于所述控制设备包括:
用于存储在操作状态改变期间给予所述半导体部件(1)的栅极的栅极电压的参考值的装置(uP),该参考值是在使用所述半导体部件之前确定的;
用于根据所存储的所述栅极电压的参考值来提供脉冲宽度调制信号的装置(uP);
电阻单元(Rg),所述电阻单元与所述半导体部件(1)的栅极相连;以及
驱动电路(IC1,C1),用于根据所述脉冲宽度调制信号将脉冲宽度调制电压提供给与所述半导体部件的栅极相连的电阻器(Rg)。
7.根据权利要求6所述的控制设备,其特征在于
所述用于提供脉冲宽度调制信号的装置(uP)是微处理器,以及
所述用于存储所述栅极电压的参考值的装置(uP)是微处理器可从其读取存储数据的存储器装置。
8.根据权利要求6或者7所述的控制设备,其特征在于所述驱动电路(IC1,C1)包括用于提供电隔离的装置(IC1)以及用于对脉冲宽度调制信号进行放大的放大电路(C1),所述脉冲宽度调制信号是由用于提供电隔离并且根据所述栅极电压的参考值生成脉冲宽度调制电压的装置所隔离。
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